[发明专利]一种复合测距方法及系统有效

专利信息
申请号: 202010517348.3 申请日: 2020-06-09
公开(公告)号: CN111766604B 公开(公告)日: 2023-03-03
发明(设计)人: 何文忠;李江勇;蔡文靖;刘鑫;杨加强;王岳 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第十一研究所
主分类号: G01S17/894 分类号: G01S17/894
代理公司: 工业和信息化部电子专利中心 11010 代理人: 于金平
地址: 100015*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 复合 测距 方法 系统
【说明书】:

发明公开了一种复合测距方法及系统,本发明采用主被动复合的测距方法,基于激光回波偏振调制的主动测距,只探测指定距离范围内的绝对距离,所需功率较低,基于场景光偏振特性的被动测距,不需要激光照明即可得到所有像素点的相对距离,两者结合得到三维图像,具有成本低、探测距离范围大、功耗低和距离与图像像素级融合等优点。

技术领域

本发明涉及光学技术领域,特别是涉及一种复合测距方法及系统。

背景技术

目前,三维成像在地形测绘、航空航天、无人驾驶等领域都有迫切需求,其中主动测距的激光雷达方法成为研究热点,已进行了大量的研究和应用,现有的测距原理主要是通过测量光的飞行时间(TOF)推导出绝对距离,主要分直接TOF和间接TOF方法,但现有测距设备具有成本高、探测距离范围小等缺点,从而限制了其推广应用。

发明内容

本发明提供了一种复合测距方法及系统,以解决现有的测距设备成本高、探测距离范围小等问题。

第一方面,本发明提供了一种复合测距方法,该方法包括:将接收到的场景光与激光分离,按照不同曝光时间进行成像,其中,一种是基于场景光的偏振特性成像进行被动测距,并基于场景光的偏振特性进行二维成像,另一种是基于激光回波偏振调制成像进行主动测距,根据主动测距结果标定并优化被动测距结果,以进行像素级测距,并将二维图像与像素级测距得到的距离相融合得到三维图像。

可选地,按照不同曝光时间进行成像,包括:按照第一预设数量帧进行第一曝光成像,根据成像结果进行所述被动测距和二维成像、按照第二预设数量帧进行第二曝光成像,根据成像结果进行所述主动测距。

可选地,基于场景光的偏振特性进行二维成像,包括:根据曝光成像结果得到各像素点间隔45度的4个角度偏振态的强度;根据所述4个角度偏振态的强度,计算像素点总光强度,得到二维图像。

可选地,所述基于场景光的偏振特性成像进行被动测距,包括:根据曝光成像结果得到各像素点间隔45度的4个角度偏振态的强度;根据所述4个角度偏振态的强度得到各像素点的斯托克斯矩阵;根据像素点的直角、极坐标关系和所述斯托克斯矩阵,得到三维空间中各像素点所在表面的法向量;根据所述法向量、偏振信息、大气衰减特性,计算所有像素点的相对距离。

可选地,基于激光回波偏振调制成像进行主动测距,包括:按照预设时间函数施加调制电压,将激光回波偏振调制为椭圆偏振光;根据曝光成像结果得到各像素点间隔90度的2个角度偏振态的强度;根据所述2个角度偏振态的强度,得到所述2个偏振态的相位差;根据所述相位差,得到各像素点偏振调制的调制电压;根据所述调制电压的预设时间函数和各像素点的所述调制电压,得到预设距离范围内像素点的绝对距离。

可选地,根据主动测距结果标定并优化被动测距结果,以进行像素级测距,包括:根据所述主动测距预设距离范围内像素点的绝对距离,优化所述被动测距各像素点所在表面的法向量,以优化所述所有像素点的相对距离;根据所述主动测距预设距离范围内像素点的绝对距离,对所述被动测距对应像素点进行标定,得到基准点绝对距离;根据所述基准点绝对距离,所述优化的所有像素点相对距离,预设数量历史帧的三维图像结果,求解当前帧所有像素点绝对距离的最优解。

可选地,将二维图像与像素级测距得到的距离相融合得到三维图像,包括:

将所述二维图像和所述所有像素点绝对距离最优解融合,得到三维图像。

第二方面,本发明提供了一种复合测距系统,该系统包括:

接收器,用于接收场景光和激光回波;

分光器,用于将所述接收器接收到的场景光与激光回波分离;

被动测距光路处理单元,用于将所述场景光传播到感光元件;

主动测距光路处理单元,用于激光发射和对激光回波的偏振调制;

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