[发明专利]一种光学检测装置及光学检测方法在审

专利信息
申请号: 202010667566.5 申请日: 2020-07-13
公开(公告)号: CN113933268A 公开(公告)日: 2022-01-14
发明(设计)人: 刘建宏;张乐;宋志强 申请(专利权)人: 中移物联网有限公司;中国移动通信集团有限公司
主分类号: G01N21/59 分类号: G01N21/59
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 许静;曹娜
地址: 401336*** 国省代码: 重庆;50
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摘要:
搜索关键词: 一种 光学 检测 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种光学检测装置,其特征在于,包括:

发光器件和分光镜;

所述发光器件发出的光线通过所述分光镜分离出至少两束光线;

所述至少两束光线中的第一部分光线透过第一介质,进入第一接收端;

所述至少两束光线中的第二部分光线透过第二介质,进入第二接收端;所述第二介质为待测区间或者待测物体,所述第一介质为固定介质。

2.根据权利要求1所述的光学检测装置,其特征在于,所述第一接收端为包括至少一个光学传感器的第一传感器组,所述第二接收端为包括至少一个光学传感器的第二传感器组。

3.根据权利要求1所述的光学检测装置,其特征在于,所述发光器件由一控制终端通过电路驱动控制发光,所述发光器件发出的光线为任意波长的光线。

4.根据权利要求2所述的光学检测装置,其特征在于,所述发光器件发出的光线的光强度为Lx0,第一部分光线的光强度为Lx1,第二部分光线的光强度为Lx2,所述第一部分光线占所述发光器件发出的光线的比例为α,所述第二部分光线占所述发光器件发出的光线的比例为β,所述第一介质透光系数为γ1,所述第二介质的透光系数为γ2;

所述第一传感器组所测得光强度为L1,第二传感器组所测得光强度为L2,传感器比例误差为б,则:

Lx1=α·Lx0;Lx2=β·Lx0;

L1=γ1·б1·Lx1;

L2=γ2·б2·Lx2。

5.根据权利要求4所述的光学检测装置,其特征在于,

在初始状态下,在第二部分光线处使用与第一部分光线相同的介质进行校准,则有γ1=γ2,计算可得常数η有如下公式:

其中η为常数,那么则有:

6.一种光学检测装置的光学检测方法,其特征在于,所述光学检测装置如权利要求1至5任一项所述的光学检测装置;

获取发光器件发出的光线的光强度为Lx0,第一部分光线的光强度为Lx1,第二部分光线的光强度为Lx2,所述第一部分光线占所述发光器件发出的光线的比例为α,所述第二部分光线占所述发光器件发出的光线的比例为β,所述第一介质透光系数为γ1,所述第二介质的透光系数为γ2;所述第一传感器组所测得光强度为L1,第二传感器组所测得光强度为L2,传感器比例误差为б;

根据所述Lx0、Lx1、Lx2、α、β、γ1、γ2、L1、L2以及б,得到:

Lx1=α·Lx0;Lx2=β·Lx0;

L1=γ1·б1·Lx1;

L2=γ2·б2·Lx2。

7.根据权利要求6所述的光学检测方法,其特征在于,根据Lx0、Lx1、Lx2、α、β、γ1、γ2、L1、L2以及б的关系,得到:

8.根据权利要求6所述的光学检测方法,其特征在于,

在初始状态下,在第二部分光线处使用与第一部分光线相同的介质进行校准,则有γ1=γ2,计算可得常数η有如下公式:

其中η为常数,那么则有:

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