[发明专利]一种光学检测装置及光学检测方法

说明书

本发明的实施例提供一种光学检测装置及光学检测方法，光学检测装置包括：发光器件和分光镜；所述发光器件发出的光线通过所述分光镜分离出至少两束光线；所述至少两束光线中的第一部分光线透过第一介质，进入第一接收端；所述至少两束光线中的第二部分光线透过第二介质，进入第二接收端；所述第二介质为待测区间或者待测物体，所述第一介质为固定介质。本发明的方案所述的测量装置和测量方法，适应性很强，能够广泛适用于不同的光学测量系统。

技术领域

本发明涉及光学检测技术领域，特别是指一种光学检测装置及光学检测方法。

背景技术

现有光学传感器检测方案，通常通过调制解调或滤波器等方式来增强抗干扰能力，传感器检测方法通常以门限值、定值查表来进行检测。

例1：溶液透光率检测传感器，现有方案为固定的某种波长检测光光源，搭配对应波长光检测传感器，配以相应的驱动电路，此种应用的光源常具有不可忽略的光衰现象，目前的处理方案为模拟补偿，不能对光衰进行实际补偿，无法应对该种干扰因素。同时如光源的光强度产生不规律抖动，现有方案无法对该干扰进行补偿。

例2：物体计数，现有方案通常以光线遮挡作为物体经过判断依据，对透光物体采用门限值或查表的方式进行判断，该方案对环境光敏感，且光源光衰、抖动等均会影响测量结果。

现有光学检测方案通常以光学传感器监测的值，直接作为表征量进行判断，抗干扰能力差，对光源光衰、环境光等因素的误差影响敏感。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种光学检测装置及光学检测方法，对光学检测表征量进行了调整，可以增强光学检测的适应性，并具备广泛的抗干扰能力。

为解决上述技术问题，本发明的技术方案如下：

一种光学检测装置，包括：

发光器件和分光镜；

所述发光器件发出的光线通过所述分光镜分离出至少两束光线；

所述至少两束光线中的第一部分光线透过第一介质，进入第一接收端；

所述至少两束光线中的第二部分光线透过第二介质，进入第二接收端；所述第二介质为待测区间或者待测物体，所述第一介质为固定介质。

可选的，所述第一接收端为包括至少一个光学传感器的第一传感器组，所述第二接收端为包括至少一个光学传感器的第二传感器组。

可选的，所述发光器件由一控制终端通过电路驱动控制发光，所述发光器件发出的光线为任意波长的光线。

可选的，所述发光器件发出的光线的光强度为Lx0，第一部分光线的光强度为Lx1，第二部分光线的光强度为Lx2，所述第一部分光线占所述发光器件发出的光线的比例为α，所述第二部分光线占所述发光器件发出的光线的比例为β，所述第一介质透光系数为γ1，所述第二介质的透光系数为γ2；

所述第一传感器组所测得光强度为L1，第二传感器组所测得光强度为L2，传感器比例误差为б，则：

Lx1＝α·Lx0；Lx2＝β·Lx0；

L1＝γ1·б1·Lx1；

L2＝γ2·б2·Lx2。

可选的，在初始状态下，在第二部分光线处使用与第一部分光线相同的介质进行校准，则有γ1＝γ2，计算可得常数η有如下公式：

其中η为常数，那么则有：

本发明的实施例还提供一种光学检测装置的光学检测方法，所述光学检测装置如上所述的光学检测装置；