[发明专利]一种测试精准的半导体器件用测试座

权利要求书

1.一种测试精准的半导体器件用测试座，其特征在于，包括：

底座；

陶瓷座，经由升降机构可上下移动的设置在底座内，且陶瓷座内开有凹槽；

设置在所述凹槽内的定位陶瓷块，在所述定位陶瓷块的顶部设有定位芯片的定位槽，且所述定位陶瓷块与所述凹槽的两侧形成了用于限位测试片组件的限位腔；

在所述底座的上方依次设有PCB基板和定位座；所述定位座的顶部设有盖板；

所述定位座上设有两个相对设置的凸台；

测试片组件，通过可调一体式模组前后移动的设置在两个所述凸台之间；

所述陶瓷座的顶部依次穿出PCB基板和定位座，且所述测试片组件设置在限位腔内；所述陶瓷座经由升降机构可上下移动的设置在底座、PCB基板和定位座之间。

2.根据权利要求1所述的测试精准的半导体器件用测试座，其特征在于：所述升降机构包括连接条，所述连接条的顶部开有固定槽，所述陶瓷座设置在固定槽内；所述连接条的底部设有导向柱，在所述导向柱的一侧开有导向槽，在所述导向槽内设有调节偏心轴；所述调节偏心轴设置在偏心轴调节杆上，所述偏心轴调节杆转动时带动调节偏心轴偏心转动，调节偏心轴驱动导向柱上下移动；所述偏心轴调节杆设置在底座的传动孔内，且所述偏心轴调节杆的端部设有一字槽。

3.根据权利要求2所述的测试精准的半导体器件用测试座,其特征在于：所述导向柱通过压缩弹簧设置在底座内。

4.根据权利要求1所述的测试精准的半导体器件用测试座,其特征在于：所述测试片组件包括对称设置的两个测试片机构；所述测试片机构包括通过绝缘隔片绝缘的两个测试片；所述测试片包括依次相互贴合的第一金属片、第一绝缘层、第二金属片和第二绝缘层，在所述第一金属片和第二金属片上设有与焊盘相连的焊盘端部以及与芯片管脚相连的针尖部。

5.根据权利要求4所述的测试精准的半导体器件用测试座,其特征在于：所述可调一体式模组包括两个固定架；两个所述测试片机构分别通过陶瓷限位销设置在两个所述固定架内；在所述固定架的一侧设有移动槽，在所述移动槽内设有偏心轴，所述偏心轴设置在调节传动轴上，在所述调节传动轴的顶部设有一字槽；所述调节传动轴带动偏心轴在移动槽内做偏心运动，从而驱动固定架前后移动；所述调节传动轴的另一端设置在凸台的容纳孔内。

6.根据权利要求4所述的测试精准的半导体器件用测试座,其特征在于：在所述PCB基板上设有多个与第一金属片和第二金属片上的的焊盘端部相连的焊盘。

7.根据权利要求2所述的测试精准的半导体器件用测试座,其特征在于：还包括用于限制导向柱横向移动的限位座。