[发明专利]显示装置及其线缺陷的检测方法在审

专利信息
申请号: 202010727278.4 申请日: 2020-07-27
公开(公告)号: CN113990228A 公开(公告)日: 2022-01-28
发明(设计)人: 黄朝玄;王耀骏 申请(专利权)人: 思电子系统意象公司
主分类号: G09G3/00 分类号: G09G3/00
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 代理人: 袁策
地址: 法国楠泰尔*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 显示装置 及其 缺陷 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种显示装置,包括:

驱动基板,具有晶片设置区及面板设置区,所述晶片设置区具有多个虚设连接垫、检测电路及多个输出连接垫,所述虚设连接垫通过所述检测电路与所述输出连接垫对应连接;

多个导电件,设置于所述虚设连接垫及所述输出连接垫上;

驱动检测晶片,设置于所述晶片设置区,并通过所述导电件与所述虚设连接垫及所述输出连接垫电性连接;以及

显示面板,设置于所述面板设置区,且所述驱动检测晶片通过所述输出连接垫与所述显示面板电性连接;

其中,所述驱动检测晶片输出检测信号,所述检测信号经由所述虚设连接垫及所述检测电路传送至所述输出连接垫,且所述驱动检测晶片由所述输出连接垫上的所述导电件检测所述检测信号。

2.根据权利要求1所述的显示装置,其中所述虚设连接垫包括检测连接垫,所述检测电路包括多个开关元件,各所述开关元件具有第一端及第二端,所述检测连接垫分别与各所述开关元件的所述第一端连接,且各所述开关元件的所述第二端分别与各所述输出连接垫对应设置且连接。

3.根据权利要求2所述的显示装置,其中所述检测信号包括检测电压,所述检测电压经由所述检测连接垫、所述开关元件传送至所述输出连接垫,且所述驱动检测晶片由所述输出连接垫上的所述导电件检测所述检测电压。

4.根据权利要求1所述的显示装置,其中所述虚设连接垫具有第一控制连接垫及第二控制连接垫,所述检测电路包括多个开关元件,各所述开关元件具有控制端,所述第一控制连接垫分别与部分的所述开关元件的所述控制端连接,所述第二控制连接垫分别与另一部分的所述开关元件的所述控制端连接。

5.根据权利要求4所述的显示装置,其中所述检测信号包括控制电压,所述控制电压经由所述第一控制连接垫或所述第二控制连接垫传送至所述开关元件的所述控制端。

6.根据权利要求1所述的显示装置,其中所述驱动检测晶片具有多个电极,所述电极的一部分分别与所述虚设连接垫及所述输出连接垫对应设置且电性连接。

7.根据权利要求6所述的显示装置,其中所述晶片设置区还具有多个输入连接垫,所述电极的另一部分分别与所述输入连接垫对应设置且电性连接。

8.根据权利要求1所述的显示装置,其中,在所述驱动检测晶片驱动所述显示面板显示影像时,所述驱动检测晶片使所述虚设连接垫浮接。

9.根据权利要求1所述的显示装置,其中所述驱动检测晶片包括所述显示面板的扫描驱动器和/或数据驱动器。

10.根据权利要求1所述的显示装置,其中所述显示面板为电子纸膜、液晶显示面板、或发光二极管显示面板。

11.一种显示装置的线缺陷检测方法,所述显示装置包括驱动基板、多个导电件、驱动检测晶片及显示面板,所述驱动基板具有晶片设置区及面板设置区,所述晶片设置区具有多个虚设连接垫、检测电路及多个输出连接垫,所述虚设连接垫通过所述检测电路与所述输出连接垫对应连接,所述导电件设置于所述虚设连接垫及所述输出连接垫上,所述驱动检测晶片设置于所述晶片设置区,并通过所述导电件与所述虚设连接垫及所述输出连接垫电性连接,所述显示面板设置于所述面板设置区,且所述驱动检测晶片通过所述输出连接垫与所述显示面板电性连接,所述检测方法包括:

由所述驱动检测晶片输出检测信号,所述检测信号经由所述虚设连接垫及所述检测电路传送至所述输出连接垫;以及

由所述驱动检测晶片从所述输出连接垫上的所述导电件检测所述检测信号。

12.根据权利要求11所述的检测方法,其中所述虚设连接垫包括检测连接垫,所述检测电路包括多个开关元件,各所述开关元件具有第一端及第二端,所述检测连接垫分别与各所述开关元件的所述第一端连接,且各所述开关元件的所述第二端分别与各所述输出连接垫对应设置且连接。

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