[发明专利]显示装置及其线缺陷的检测方法

说明书

本发明公开一种显示装置及其线缺陷的检测方法。显示装置包括驱动基板、多个导电件、驱动检测晶片及显示面板，驱动基板具有晶片设置区及面板设置区，晶片设置区具有多个虚设连接垫、检测电路及多个输出连接垫，这些虚设连接垫通过检测电路与这些输出连接垫对应连接，驱动检测晶片设置于晶片设置区，且驱动检测晶片通过这些输出连接垫与显示面板电性连接，该检测方法包括：由驱动检测晶片输出检测信号，该检测信号经由这些虚设连接垫及检测电路传送至这些输出连接垫；以及，由驱动检测晶片从这些输出连接垫上的导电件检测该检测信号。

技术领域

本发明涉及一种装置及检测方法，更具体地涉及一种显示装置及其线缺陷(LineDefect)的检测方法。

背景技术

随着科技的进步，作为人与机器间沟通接口的平面显示装置也持续不断地进步，并且朝着多元化的方向发展以满足人类的需求。在现有的平面显示装置中，将驱动晶片接合(Bonding)在玻璃基板上通称为COG(Chip on Glass)，以驱动显示面板产生影像已是相当普遍的制造技术。

在现有技术中，平面显示装置使用一段时间后，如果显示画面发生暗线的问题时，为了找出暗线的原因及其相关位置，现有的方法需将显示装置的模块外观件折除后才能对显示模块进行检查，以确定其原因是因为模块的面内问题、驱动晶片的接合不良问题，或是驱动晶片本身不良所造成。

发明内容

本发明的目的为提供一种显示装置及其线缺陷的检测方法，可以达到不需拆解显示装置即可得知线缺陷发生的相关位置。

为达上述目的，依据本发明的一种显示装置包括驱动基板、多个导电件、驱动检测晶片以及显示面板。驱动基板具有晶片设置区及面板设置区，晶片设置区具有多个虚设连接垫、检测电路及多个输出连接垫，这些虚设连接垫通过检测电路与这些输出连接垫对应连接。这些导电件设置于这些虚设连接垫及这些输出连接垫上。驱动检测晶片设置于晶片设置区，并通过这些导电件与这些虚设连接垫及这些输出连接垫电性连接。显示面板设置于面板设置区，且驱动检测晶片通过这些输出连接垫与显示面板电性连接；其中，驱动检测晶片输出检测信号，该检测信号经由这些虚设连接垫及检测电路传送至这些输出连接垫，且驱动检测晶片由这些输出连接垫上的这些导电件检测该检测信号。

为达上述目的，依据本发明的一种显示装置的线缺陷检测方法，显示装置包括驱动基板、多个导电件、驱动检测晶片及显示面板，驱动基板具有晶片设置区及面板设置区，晶片设置区具有多个虚设连接垫、检测电路及多个输出连接垫，这些虚设连接垫通过检测电路与这些输出连接垫对应连接，这些导电件设置于这些虚设连接垫及这些输出连接垫上，驱动检测晶片设置于晶片设置区，并通过这些导电件与这些虚设连接垫及这些输出连接垫电性连接，显示面板设置于面板设置区，且驱动检测晶片通过这些输出连接垫与显示面板电性连接，该检测方法包括：由驱动检测晶片输出检测信号，该检测信号经由这些虚设连接垫及检测电路传送至这些输出连接垫；以及，由驱动检测晶片从这些输出连接垫上的这些导电件检测该检测信号。

在一个实施例中，这些虚设连接垫包括检测连接垫，检测电路包括多个开关元件，各开关元件具有第一端及第二端，检测连接垫分别与各开关元件的第一端连接，且各开关元件的第二端分别与各输出连接垫对应设置且连接。

在一个实施例中，检测信号包括检测电压，该检测电压经由检测连接垫、这些开关元件传送至这些输出连接垫，且驱动检测晶片由这些输出连接垫上的这些导电件检测该检测电压。

在一个实施例中，这些虚设连接垫具有第一控制连接垫及第二控制连接垫，检测电路包括多个开关元件，各开关元件具有控制端，第一控制连接垫分别与部分的这些开关元件的这些控制端连接，第二控制连接垫分别与另一部分的这些开关元件的这些控制端连接。

在一个实施例中，该检测信号包括控制电压，该控制电压经由第一控制连接垫或第二控制连接垫传送至这些开关元件的这些控制端。