[发明专利]一种图像的处理方法、装置、设备及介质

说明书

本发明公开了一种图像的处理方法、装置、设备及介质，用于解决现有获取条纹中心像素点的方法，未考虑杂光干扰，导致抗杂光干扰能力差，确定的条纹中心像素点不准确的问题。由于本发明实施例中在根据激光条纹灰度图像中位于激光条纹上的每素点的坐标值以及对应的法线方向，确定了该像素点对应的条纹中心像素点后，确定包含该条纹中心像素点的第一窗口，若该第一窗口内包含的其他条纹中心像素点的数量大于设定的数量阈值，才确定该条纹中心像素点为目标条纹中心像素点，实现对条纹中心像素点的筛选，减少了杂光对获取的目标条纹中心像素点的干扰，提高了获取的目标条纹中心像素点的准确度。

技术领域

本发明涉及图像智能处理领域，尤其涉及一种图像的处理方法、装置、设备及介质。

背景技术

为还原待测工件表面的三维信息，高精度的被测物表面特征信息的提取尤为重要。相关技术中，一般采用线激光扫描的测量方案，该方案中，将线激光投射于被测物表面后，通过相机采集当前被测物表面的激光条纹图像，对该激光条纹图像进行处理得到激光条纹灰度图像，获取激光条纹灰度图像中被调制的条纹中心像素点，从而获取被测物表面特征信息。其中，获取激光条纹灰度图像中被调制的条纹中心像素点，可以反映被测物的空间位置信息，是获取被测物表面特征信息的关键。因此，如何准确地获取激光条纹灰度图像中的条纹中心像素点是近几年来人们比较关注的问题。

目前，在获取激光条纹灰度图像中的条纹中心像素点的方法一般包括以下几种：

一、采用不同卷积核，比如K阶高斯卷积核，重心卷积等，对激光条纹灰度图像中位于激光条纹上的每个像素点的灰度值进行卷积，从而计算激光条纹中心像素点；

二、直接对激光条纹灰度图像中位于激光条纹上的每个像素点的像素值进行曲线拟合，如二次曲线拟合，贝塞尔曲线拟合等，来确定条纹中心像素点；

三、采用四个模拟激光条纹灰度图像中位于激光条纹上的每个像素点的梯度，计算条纹中心像素点；

四、确定激光条纹灰度图像中位于激光条纹上的像素点的二阶偏导矩阵，利用二阶偏导矩阵最大的特征值对应的特征向量确定像素点的法线方向，从而计算条纹中心像素点。

对于上述的各确定激光条纹中心像素点的方法可知，现有技术中在获取条纹中心像素点的时候，因为不考虑杂光干扰，导致抗杂光干扰能力差，当获取的激光条纹灰度图像受杂光影响的时候，根据上述方法确定的条纹中心像素点会很不准确。

发明内容

本发明实施例提供了一种图像的处理方法、装置、设备及介质，用于解决现有获取条纹中心像素点的方法，未考虑杂光干扰，导致抗杂光干扰能力差，确定的条纹中心像素点不准确的问题。

本发明实施例提供了一种图像的处理方法，所述方法包括：

根据激光条纹灰度图像中位于激光条纹上的像素点，确定通过所述像素点的所述激光条纹的法线方向；

根据所述像素点的坐标值以及对应的法线方向，确定所述像素点对应的条纹中心像素点；

确定包含所述条纹中心像素点的第一窗口，若所述第一窗口内包含的其他条纹中心像素点的数量大于设定的数量阈值，则确定所述条纹中心像素点为目标条纹中心像素点。

本发明实施例还提供了一种图像的处理装置，所述装置包括：

第一确定单元，用于根据激光条纹灰度图像中位于激光条纹上的像素点，确定通过所述像素点的所述激光条纹的法线方向；

第二确定单元，用于根据所述像素点的坐标值以及对应的法线方向，确定所述像素点对应的条纹中心像素点；

处理单元，用于确定包含所述条纹中心像素点的第一窗口，若所述第一窗口内包含的其他条纹中心像素点的数量大于设定的数量阈值，则确定所述条纹中心像素点为目标条纹中心像素点。