[发明专利]一种高层建筑快速安装的脚手架、监测方法及实施方法在审
申请号: | 202011007497.1 | 申请日: | 2020-09-23 |
公开(公告)号: | CN112081361A | 公开(公告)日: | 2020-12-15 |
发明(设计)人: | 陈诚;侯蕊;樊陵姣;樊凌衡 | 申请(专利权)人: | 湖南工学院 |
主分类号: | E04G1/06 | 分类号: | E04G1/06;E04G5/00;G01L25/00 |
代理公司: | 长沙新裕知识产权代理有限公司 43210 | 代理人: | 刘加 |
地址: | 421002 湖*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 高层建筑 快速 安装 脚手架 监测 方法 实施 | ||
1.一种高层建筑快速安装的脚手架监测方法,其特征在于,所述高层建筑快速安装的脚手架监测方法包括:
步骤一,通过压力传感器检测高层建筑快速安装的脚手架承受压力;
步骤二,通过传感器校准模块对压力传感器进行校准;配置待校准压力传感器工作参数,并设置待校准的压力传感器的温度;向设置的温度下的所述压力传感器的输入不同的压力;获取所述压力传感器对不同的压力的响应值;
步骤三,获取输入的压力与对应的响应值之间的线性关系;
步骤四,根据获取的所述线性关系确认所述压力传感器的准确性,设置所述压力传感器的误差阈值;根据获取的所述线性关系得出所述压力传感器的工作直线方程;将输入的所述压力代入工作直线方程并获取对应的理论响应值;
步骤五,将获取的所述响应值与获取的所述理论响应值比对,若误差超出设置的所述误差阈值则所述压力传感器不准确;
步骤六,通过形变监测分析模块对高层建筑快速安装的脚手架形变进行检测分析,根据三维激光扫描仪获取待测脚手架的点云数据;通过全站仪获取所述待测脚手架周围控制点坐标,建立监测绝对坐标系;获取原始监测数据,所述原始监测数据包括N个对目标区域的回波数据、每个所述回波数据的采集时间信息及携带雷达的卫星的轨道信息,所述目标区域包括目标脚手架,其中,N为大于或者等于2的正整数;对N个所述回波数据进行数据处理,以获得包括所述目标脚手架的N个初始二维图像,其中,所述回波数据与所述初始二维图像一一对应;
步骤七,对每个所述初始二维图像进行修正处理,以获得N幅修正二维图像,每个所述修正二维图像包括所述目标区域的多个散射体的成像点,其中,在每个所述修正二维图像中,至少部分所述散射体的成像点与其他所述散射体的成像点重叠以形成叠掩点,所述散射体的成像点具有二维坐标,其中,所述散射体的成像点的二维坐标为其在第一平面上的二维坐标,所述第一平面与第一方向垂直,所述第一方向为由所述雷达指向所述目标脚手架的方向;
步骤八,对每个所述修正二维图像进行处理,将每个所述修正二维图中的所述叠掩点进行分离,以获所述目标区域的散射体的数量;对每个所述修正二维图像,选取所述修正二维图像中的若干个所述散射体的成像点作为初始目标点集,并对所述初始目标点集进行干涉点目标分析,去除误差成像点,以获得每个所述修正二维图像对应的结果目标点集;
步骤九,根据每个所述修正二维图像对应的所述结果目标点集中所述散射体的成像点在所述第一平面上的二维坐标,计算出每个所述修正二维图像中所述散射体的散射系数;利用至少两个所述修正二维图像中所述散射体的散射系数,计算出主图像中的所述散射体的高度向向量,所述高度向为所述目标脚手架垂直于地面的方向,其中,至少两个所述修正二维图像包括所述主图像,所述主图像为N个所述修正二维图像中的第M个所述修正二维图像,当N为偶数时,M=N/2,当N为奇数时,M=(N+1)/2;
步骤十,获取所述目标区域的历史温度数据,根据所述历史温度数据,获得所述目标脚手架的膨胀幅度数据;根据每个所述回波数据的采集时间信息和所述主图像和高度向向量,计算出所述目标脚手架的高度向形变速度;
步骤十一,通过主机控制各个模块正常工作并显示检测压力、形变监测分析结果。
2.如权利要求1所述高层建筑快速安装的脚手架监测方法,其特征在于,所述不同压力的响应值由标准压力控制仪输入。
3.如权利要求1所述高层建筑快速安装的脚手架监测方法,其特征在于,所述响应值为电信号值。
4.如权利要求1所述高层建筑快速安装的脚手架监测方法,其特征在于,所述电信号值为电流值和/或电压值。
5.如权利要求1所述高层建筑快速安装的脚手架监测方法,其特征在于,所述将每个所述修正二维图中的所述叠掩点进行分离,以获所述目标区域的散射体的数量包括:
1)对每个所述修正二维图像进行永久散射体干涉分析,获得永久散射体重叠形成的多个永久散射体叠掩点,对所述永久散射体叠掩点进行相位解缠以获得每个所述修正二维图像的相位信息;
2)根据相位模型拟合每个所述修正二维图像的相位信息,并计算各所述相位信息之间的均方根,用所述均方根评估每个所述散射体是否符合误差要求。
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