[发明专利]一种高功率VCSEL阵列芯片倒装焊封装结构及制备方法有效
申请号: | 202011164067.0 | 申请日: | 2020-10-27 |
公开(公告)号: | CN112350144B | 公开(公告)日: | 2021-09-07 |
发明(设计)人: | 王智勇;李尉;代京京;兰天 | 申请(专利权)人: | 北京工业大学 |
主分类号: | H01S5/024 | 分类号: | H01S5/024;H01S5/028;H01S5/42 |
代理公司: | 北京汇信合知识产权代理有限公司 11335 | 代理人: | 朱鹏 |
地址: | 100124 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 功率 vcsel 阵列 芯片 倒装 封装 结构 制备 方法 | ||
本发明公开了一种高功率VCSEL阵列芯片倒装焊封装结构及制备方法,包括:底发射二维周期性VCSEL阵列芯片、热沉和多层单晶反射膜层;底发射二维周期性VCSEL阵列芯片包括衬底层和设于衬底层底部的二维周期性VCSEL发光单元;VCSEL发光单元的底部通过焊料层与热沉相连,衬底层的顶部设有多层单晶反射膜层;其中,热沉的热膨胀系数与衬底层的热膨胀系数相当,单晶反射膜层具有与衬底层相同的晶格结构。本发明热沉的热膨胀系数与VCSEL阵列芯片的衬底层的热膨胀系数相当,其可减小芯片内部热应力,抑制芯片受热发生形变;在衬底层顶部制备与衬底层晶格相匹配的多层单晶膜层,提高单晶反射层间以及与衬底层之间的粘附力。
技术领域
本发明涉及半导体激光芯片技术领域,具体涉及一种高功率VCSEL阵列芯片倒装焊封装结构及制备方法。
背景技术
与边发射半导体激光器相比,垂直腔面发射激光器(VCSEL)具有体积小、光斑为圆形、阈值电流低、单纵模输出、耦合效率高、易实现二维列阵集成等优越性能,高功率VCSEL广泛应用于激光打印、激光医疗、芯片光刻、焊接加工等领域。
VCSEL阵列芯片改善了半导体激光器光束质量差的问题,但是由于传统的正装VCSEL阵列芯片封装工艺的发光单元位于衬底层的顶部,无法与热沉直接接触,散热效果差,导致工作效率不稳定,从而限制了高功率VCSEL阵列的发展及应用。
发明内容
为解决现有技术中存在的上述问题,本发明提供一种高功率VCSEL阵列芯片倒装焊封装结构及制备方法。
本发明公开了一种高功率VCSEL阵列芯片倒装焊封装结构,包括:底发射二维周期性VCSEL阵列芯片、热沉和多层单晶反射膜层;
所述底发射二维周期性VCSEL阵列芯片包括衬底层和设于所述衬底层底部的二维周期性VCSEL发光单元;所述VCSEL发光单元的底部通过焊料层与所述热沉相连,所述衬底层的顶部设有多层所述单晶反射膜层;其中,
所述热沉的热膨胀系数与所述衬底层的热膨胀系数相当,所述单晶反射膜层具有与所述衬底层相同的晶格结构。
作为本发明的进一步改进,所述衬底层包括GaAs衬底、GaN衬底和InP衬底中的一种,所述VCSEL发光单元包括二维四方型排布阵列、二维斜角型排布阵列和二维六边形排布阵列中的一种。
作为本发明的进一步改进,所述热沉的制备方法为:
用3D打印技术烧结Cu与热膨胀系数低于衬底的材料的混合粉末,得到热膨胀系数与衬底层的热膨胀系数相当的合金热沉。
作为本发明的进一步改进,热膨胀系数低于衬底的材料包括Mo、W、金刚石中的一种。
作为本发明的进一步改进,所述焊料层的焊料包括Au-Sn合金焊料、锡铅合金焊料和共晶焊锡焊料中的一种。
作为本发明的进一步改进,所述单晶反射膜层的制备方法为:
通过MOCVD或MBE技术交替淀积不同材料的膜层,得到多层单晶反射膜层。
作为本发明的进一步改进,所述膜层的材料包括GaAs,AlAs,AlGaAs中的一种。
本发明还公开了一种高功率VCSEL阵列芯片倒装焊封装结构的制备方法,包括:
选择底发射二维周期性VCSEL阵列芯片;其中,所述底发射二维周期性VCSEL阵列芯片包括衬底层和设于所述衬底层底部的二维周期性VCSEL发光单元;
将VCSEL发光单元的底部通过焊料固定在热沉上;其中,所述热沉的热膨胀系数与所述衬底层的热膨胀系数相当;
在所述衬底层的顶部设有多层所述单晶反射膜层;其中,所述单晶反射膜层具有与所述衬底层相同的晶格结构。
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