[发明专利]一种根据T拓扑走线阻抗平衡过孔不等长的方法有效
| 申请号： | 202011210381.8 | 申请日： | 2020-11-03 |
| 公开（公告）号： | CN112601341B | 公开（公告）日： | 2022-02-18 |
| 发明（设计）人： | 张毅军 | 申请（专利权）人： | 苏州浪潮智能科技有限公司 |
| 主分类号： | H05K1/02 | 分类号： | H05K1/02;H05K3/00 |
| 代理公司： | 济南舜源专利事务所有限公司 37205 | 代理人： | 徐胭脂 |
| 地址： | 215100 江苏省苏州市吴*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 根据 拓扑 阻抗 平衡 不等 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种根据T拓扑走线阻抗平衡过孔不等长的方法，其特征在于，包括：
根据分支点划分T拓扑走线的短过孔分支和长过孔分支；
列举短过孔分支和长过孔分支的阻抗分布方式；
实施所述阻抗分布方式，并对分支点进行阻抗扫描仿真对比得到阻抗要求；
根据阻抗要求改变短过孔分支和长过孔分支的走线线宽；
所述阻抗分布方式包括：
短过孔分支和长过孔分支等阻抗分布；
长过孔分支选择低阻抗，短过孔分支选择高阻抗；
长过孔分支选择高阻抗，短过孔分支选择低阻抗；
对分支点进行阻抗扫描仿真对比得到阻抗要求，具体为：对分支点阻抗进行步进扫描，对比不同阻抗下波形结，获取最优化阻抗值。
2.根据权利要求1所述的一种根据T拓扑走线阻抗平衡过孔不等长的方法，其特征在于，所述方法还包括：
通过仿真软件查看改变后的信号水平；
并检测闪存提升速率。
3.根据权利要求1所述的一种根据T拓扑走线阻抗平衡过孔不等长的方法，其特征在于，经扫描仿真对比得到的阻抗要求为：阻抗要求长过孔分支选择低阻抗，短过孔分支选择高阻抗。
4.根据权利要求1所述的一种根据T拓扑走线阻抗平衡过孔不等长的方法，其特征在于，所述方法还包括：获取阻抗与走线线宽的映射信息。
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