[发明专利]一种非线性姿态检测补偿方法及终端有效
申请号: | 202011266997.7 | 申请日: | 2020-11-13 |
公开(公告)号: | CN112525144B | 公开(公告)日: | 2023-03-21 |
发明(设计)人: | 林智铃;钟丽容;林俊明 | 申请(专利权)人: | 恒鸿达科技有限公司 |
主分类号: | G01C1/00 | 分类号: | G01C1/00;G01C21/08 |
代理公司: | 福州市博深专利事务所(普通合伙) 35214 | 代理人: | 段惠存 |
地址: | 350000 福建省福*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 非线性 姿态 检测 补偿 方法 终端 | ||
本发明公开了一种非线性姿态检测补偿方法及终端,获取磁力计检测到的初始磁场数据及温度数据;根据温度数据在预设的磁场矢量补偿表中确定对应的磁场矢量补偿值,使用磁场矢量补偿值补偿初始磁场数据,得到第一磁场数据;获取预设的校准磁场数据,根据校准磁场数据及第一磁场数据计算得到计算磁场数据;根据所述计算磁场数据计算待测物体的方位角;通过对检测到的磁场数据进行温度补偿和与校准磁场数据进行校准,再根据进行温度补偿和校准之后的磁场数据进行方位角的计算,提高了最终计算出的方位角的精度。
技术领域
本发明涉及姿态测量领域,尤其涉及一种非线性姿态检测补偿方法及终端。
背景技术
在天线基站姿态监测系统,室内外等需要监测姿态的系统中,常常需要获取被检测物体如天线的方位角,在测量方位角时需要获取磁力计的测量数据,但由于环境温度的变化对磁场三轴分量(X,Y,Z)的影响较大,若不考虑温度因素直接读取磁力计的数据,所得数据往往缺少准确度,无法适配天线姿态测量等需要高精度数据的应用场景。然而目前的姿态监测系统中,由于没有加入温漂系统修正,对磁力计测量所得的三轴的分量的精度影响较大,姿态角度中的方位角就会随三轴分量的变化,出现滚动变化,影响实际的测量值。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是:提供一种非线性姿态检测补偿方法及终端,提高方位角测量的准确度。
为了解决上述技术问题,本发明采用的一种技术方案为:
一种非线性姿态检测补偿方法,包括步骤:
S1、获取磁力计检测到的初始磁场数据及温度数据;
S2、根据所述温度数据在预设的磁场矢量补偿表中确定对应的磁场矢量补偿值,使用所述磁场矢量补偿值补偿所述初始磁场数据,得到第一磁场数据;
S3、获取预设的校准磁场数据,根据所述校准磁场数据及所述第一磁场数据计算得到计算磁场数据;
S4、根据所述计算磁场数据计算待测物体的方位角。
为了解决上述技术问题,本发明采用的另一种技术方案为:
一种非线性姿态检测补偿终端,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现以下步骤:
S1、获取磁力计检测到的初始磁场数据及温度数据;
S2、根据所述温度数据在预设的磁场矢量补偿表中确定对应的磁场矢量补偿值,使用所述磁场矢量补偿值补偿所述初始磁场数据,得到第一磁场数据;
S3、获取预设的校准磁场数据,根据所述校准磁场数据及所述第一磁场数据计算得到计算磁场数据;
S4、根据所述计算磁场数据计算待测物体的方位角。
本发明的有益效果在于:预设校准磁场数据,并根据温度数据在预设的磁场矢量补偿表中获取对应的磁场矢量补偿值对测量所得的磁场数据进行温度补偿,根据温度补偿后的磁场数据和校准磁场数据进行方位角的计算,减小了由于温度变化导致磁力计检测数据精度下降对方位角的获取造成的影响,提高了最终获取到的方位角的精度,特别适用于如对天线姿态的测量一类对姿态角度的精度要求较高的场合。
附图说明
图1为本发明实施例的一种非线性姿态检测补偿方法的步骤流程图;
图2为本发明实施例的一种非线性姿态检测补偿终端的结构示意图;
图3为本发明实施例的校准磁场获取步骤示意图;
图4为本发明实施例的第一磁场数据获取步骤示意图;
图5为本发明实施例的俯仰角及横滚角的测量过程示意图;
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