[发明专利]一种质谱数据谱图信号校准方法及装置在审

专利信息
申请号: 202011289286.1 申请日: 2020-11-18
公开(公告)号: CN112415078A 公开(公告)日: 2021-02-26
发明(设计)人: 王磊;李庆运;王东鉴 申请(专利权)人: 深圳市步锐生物科技有限公司
主分类号: G01N27/622 分类号: G01N27/622;G01N27/623;G06F17/14;G06F17/18;G06K9/00
代理公司: 深圳市广诺专利代理事务所(普通合伙) 44611 代理人: 伍华荣
地址: 518000 广东省深圳市坪山区坑梓街道金沙*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 种质 数据 信号 校准 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种质谱数据谱图信号校准方法,其特征在于,包括以下步骤:

步骤S11:获取原始谱图,并设定S(x)为待对齐谱,R(x)为参考谱;其中,所述原始谱图为一个2列31666行的质谱数据,第1列记录精确质量数,第2列记录信号强度;

步骤S12:设定采样时间间隔为t,建立标准采样时间点与所述质谱数据的一一映射关系;将所述采样时间间隔t均分10等分,使采样点从31666扩大为316660;

步骤S13:构建二维小波变换矩阵X(γ,μ);其中,γ与μ分别设定为变换尺度及变化位移,在设定的γ与μ范围内对所述原始谱图进行连续小波变换,并通过判别谱峰上升沿与下降沿斜率,完成谱峰识别以及峰位置标记;

步骤S14:建立重叠峰拆分数学模型,结合小波变换所识别及标记的峰位置,采用平滑优化处理算法以及傅立叶去卷积和空域反卷积处理方法,识别所述谱峰中的重叠峰并完成拆分,获得多个信号峰;

步骤S15:使用NM算法优化所述谱峰的中心坐标和半峰宽,优化完成后对所述原始谱图中每个信号峰进行高斯拟合;

步骤S16:寻找标志峰,建立所述标志峰的精确质量数与实际对应采样时间的映射关系;其中,设定所述待对齐谱S(x)的谱图分段Si(x)(i=1,2,...),并计算各分段Si(x)相对于所述参考谱R(x)对应分段的漂移量ΔPi;按ΔPi移动对应的分段Si(x),若与相邻分段Si-1(x)或Si+1(x)发生谱峰重叠,则使ΔPi=ΔPi-1(ΔPi≥0),直到谱峰不发生重叠为止,记录不重叠时的所对应的漂移量ΔPi

步骤S17:用各分段的不重叠时的所对应的漂移量ΔPi校正相应的分段Si(x)的质谱数据,得到目标尺度下的对齐谱S(x);其中,设定标准谱图包含35000个采样点,以统一质量数递增步长建立标准质量轴区间。

2.如权利要求1所述的质谱数据谱图信号校准方法,其特征在于,所述步骤S15之后还包括:

步骤S18:建立噪声分布的数学模型,对所述原始谱图中的噪声进行非线性抑制、平滑降噪和优化处理。

3.如权利要求2所述的质谱数据谱图信号校准方法,其特征在于,所述步骤S18中还包括:

对所述原始谱图中未参与高斯拟合的采样点,进行信号强度置零处理。

4.如权利要求3所述的质谱数据谱图信号校准方法,其特征在于,所述步骤S17之后还包括:

步骤S19:设定高斯窗函数σ的初始值,最小步长Δσ,判断所述高斯窗函数σ是否达到设定的最小尺度,若结果为是,则算法结束;若结果为否,使σ’=σ-Δσ,并回到所述步骤S13。

5.如权利要求4所述的质谱数据谱图信号校准方法,其特征在于,所述步骤S17之后还包括:

步骤S20:将对齐处理后的所述对齐谱S(x)生成新的谱图数据,并将所述对齐谱S(x)进行绘图处理并输出。

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