[发明专利]一种改善硫化钨连续膜均匀性的方法有效

专利信息
申请号: 202011426047.6 申请日: 2020-12-09
公开(公告)号: CN112458430B 公开(公告)日: 2023-03-28
发明(设计)人: 兰飞飞;张嵩;董增印;王再恩;王健;李佳起;杨丹丹;张颖;李强 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十六研究所
主分类号: C23C16/30 分类号: C23C16/30;C23C16/02;C23C16/54
代理公司: 天津中环专利商标代理有限公司 12105 代理人: 王凤英
地址: 300220*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 一种 改善 硫化 连续 均匀 方法
【权利要求书】:

1.一种改善硫化钨连续膜均匀性的方法,其特征在于,利用H2对硫化钨单晶终端的刻蚀作用,在一定气氛与温度下对获得的连续硫化钨薄膜进行表面热退火处理,去除硫化钨薄膜表面二次成核三角形,处理过程按照以下步骤完成:

第一步,将CVD法获得的连续硫化钨薄膜放置在石英舟表面;

第二步,将石英管放入CVD生长系统中;对CVD生长系统进行抽真空处理,当系统内压力为0mbar时,通入Ar气进行吹扫,Ar气流量为500sccm;

第三步,将Ar气流量降至100sccm-150sccm,系统内压力保持在5mbar-10mbar;

第四步,对系统进行升温,将系统温度升至950℃-1000℃,通入5sccm-10sccm的H2,并保温30min-50min;

第五步,热处理过程结束后,降温,取样。

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