[发明专利]一种远程等离子源RPS腔体阳极氧化方法有效
申请号: | 202011565459.8 | 申请日: | 2020-12-25 |
公开(公告)号: | CN112899747B | 公开(公告)日: | 2022-07-26 |
发明(设计)人: | 刘文丰;崔婷婷;皮昌全 | 申请(专利权)人: | 江苏神州半导体科技有限公司 |
主分类号: | C25D11/02 | 分类号: | C25D11/02 |
代理公司: | 南京源点知识产权代理有限公司 32545 | 代理人: | 黄晨 |
地址: | 225000 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 远程 离子源 rps 阳极 氧化 方法 | ||
本发明公开一种远程等离子源RPS腔体阳极氧化方法,包括如下步骤:S1预处理:打磨基材,之后依次进行去脂、水洗、碱洗、中和和水洗操作,露出金属基体;S2阳极氧化:将基材放置在电解液中作为阳极,施加电源进行硬质阳极氧化处理;S3后处理:将经过步骤S2处理的基材水洗后,依次进行封孔和烘干操作,即得。本发明采用200~240目的百洁布打磨Al基材可以赋予表面比较合适的粗糙度,能够诱导产生局部的细微裂纹,从而减少硬质氧化膜特性带来较大影响的裂纹;既不会因为粗糙度过大导致氧化膜生长不完整,又在一定程度上减小了氧化膜的内应力,降低了硬质氧化膜裂纹的风险。
技术领域
本发明涉及半导体制造技术领域,具体涉及一种远程等离子源RPS腔体阳极氧化方法。
背景技术
三氟化氮在常温下是一种无色、无臭、性质稳定的气体,是一种强氧化剂。三氟化氮在微电子工业中作为一种优良的等离子蚀刻气体,在离子蚀刻时裂解为活性氟离子,这些氟离子对硅和钨化合物,高纯三氟化氮具有优异的蚀刻速率和选择性,它在蚀刻时,在蚀刻物表面不留任何残留物,是非常良好的清洗剂。基于NF3的等离子体越来越多地用于半导体制造领域用于清洁化学气相沉积(CVD)腔室。NF3等离子体具有更快的清洁时间、具有减少全球变暖气体排放和减少室内损坏等优点,比氟碳工艺更受青睐。
现有技术中采用远程等离子体源(RPS)腔体用于分离NF3气体并产生原子氟,在腔室表面蚀刻CVD残留物,清洁时对应的化学反应式为:Si(s)+4F=SiF4(g)。RPS腔体采用铝合金材质,质轻、强度高,但其表面硬度低、不耐磨,因此在应用到RPS腔体上时需要进行阳极氧化处理,获得与基材结合力好、具有一定厚度的氧化膜层,从而满足结构件材料强度、耐腐蚀等要求。
目前,RPS腔体多采用硬质阳极氧化工艺,RPS腔体的氧化膜对耐腐蚀性、抗击穿性能等有着很高的要求;但是应用在RPS腔体上的硬质阳极氧化膜为了提高耐腐蚀性和抗击穿能力,一般膜厚比较高,基本在50um以上,但是硬质阳极氧化工艺做出的膜在达到一定厚度后容易产生裂纹,一但裂纹产生,F粒子就会通过裂纹进入AL基材,并与基材反应,最终出现氧化膜脱落,RPS腔体被击穿,无法正常使用。
因此,开发一种能够有效减少RPS腔体表面氧化膜裂纹、提高氧化膜物理和化学性能的阳极氧化工艺十分有必要。
发明内容
本发明的目的在于提供一种远程等离子源RPS腔体阳极氧化方法,以解决现有技术中的RPS腔体的硬质阳极氧化膜为了提高耐腐蚀性和抗击穿能力,一般膜厚比较高,基本在50μm以上,但是硬质阳极氧化工艺做出的膜在达到一定厚度后容易产生裂纹,一但裂纹产生,F粒子就会通过裂纹进入AL基材,并与基材反应,最终出现氧化膜脱落,RPS腔体被击穿,无法正常使用的技术问题。
为了实现上述目的,本发明的技术方案是:
一种远程等离子源RPS腔体阳极氧化方法,包括如下步骤:
S1预处理:打磨基材,之后依次进行去脂、水洗、碱洗、中和和水洗操作,露出金属基体;
S2阳极氧化:将基材放置在电解液中作为阳极,施加电源进行硬质阳极氧化处理;
S3后处理:将经过步骤S2处理的基材水洗后,依次进行封孔和烘干操作,即得。
在上述技术方案的基础上,本发明还可以做如下改进:
进一步的,所述步骤1中的打磨基材操作为采用200~240目的百洁布将基材表面打磨至粗糙度0.5~0.7μm。
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