[发明专利]缺陷检测系统及方法、装置、设备和存储介质

说明书

本申请提供一种缺陷检测系统及方法、装置、设备和存储介质。缺陷检测系统包括多个光源、多个工业相机和数据处理终端，光源和工业相机的设置位置相平行。光源用于为待检测物提供光照，光源中第一光源和第二光源设置于待检测物上表面，第三光源设置于待检测物下表面，第一光源和第二光源之间呈预设角度。工业相机拍摄对应光照区域的待检测物得到待检测图像。数据处理终端根据待检测图像确定缺陷检测结果。第一光源和第二光源之间呈预设角度能够形成交叉光源，可以保证不同类型的缺陷都能成像，使得存在的缺陷都被拍摄得到，避免了漏检，保证了检测效果。基于计算机视觉技术对缺陷进行检测，提高了检测效率，有利于自动化生产工艺要求。

技术领域

本申请涉及计算机视觉技术领域，尤其涉及一种缺陷检测系统及方法、装置、设备和存储介质。

背景技术

在纺织品的生产工艺中，对于待出厂的纺织品进行缺陷检测是品控的重要环节，缺陷检测的精确度直接影响纺织品的出厂品质。目前，对于纺织品的缺陷检测往往依赖人工完成，但面对繁重且重复的检测工作，人工效率低下，且人工成本较高，因而，通过计算机视觉辅助检测显得至关重要。

现如今，主流的检测方法是利用工业摄像头首先对纺织品进行拍摄，然后基于拍摄到的图片进行图像识别和检测，以确定是否存在相应缺陷。然而，在实际工况中，由于缺陷的类型和位置都是未知的，往往会由于光照不当，使得摄像头拍摄不到有些缺陷，造成漏检，导致检测效果不理想。

可见，现有的纺织物缺陷检测方案存在一定的技术缺陷，亟需一种解决方案以解决上述问题。

发明内容

本申请提供一种缺陷检测系统及方法、装置、设备和存储介质，用于解决现有的纺织物缺陷检测方案中由于光源设置不当造成漏检导致检测效果不理想的技术问题。

第一方面，本申请提供一种缺陷检测系统，包括：多个光源、多个工业相机和数据处理终端，所述工业相机的设置位置与所述光源的设置位置平行；

所述光源用于为待检测物提供光照，所述光源中的第一光源和第二光源分别设置于所述待检测物的上表面，所述光源中的第三光源设置于所述待检测物的下表面，所述第一光源和所述第二光源之间呈预设角度；

所述工业相机用于拍摄对应光照区域内的所述待检测物，以得到对应的待检测图像；

所述数据处理终端用于根据所述待检测图像确定缺陷检测结果。

在一种可能的设计中，所述缺陷检测系统，还包括：编码器和采集卡；

所述编码器用于获取所述待检测物的运动状态，并上报所述运动状态给所述采集卡；

所述采集卡用于根据所述运动状态控制每个工业相机的拍摄参数，并将每个工业相机拍摄的所述待检测图像传输给所述数据处理终端。

在一种可能的设计中，所述缺陷检测系统还包括：显示器；

所述显示器用于显示所述缺陷检测结果，所述缺陷检测结果包括缺陷的类型和所述缺陷的位置数据。

在一种可能的设计中，所述缺陷检测系统还包括：LED灯阵列；

所述LED灯阵列用于将所述缺陷的位置数据通过亮灯的方式定位至所述待检测物上。

在一种可能的设计中，当所述光源的长轴与所述待检测物的运动方向垂直时，所述长轴的长度超过所述待检测物的对边距离。

第二方面，本申请提供一种缺陷检测方法，应用于第一方面中任一项所述的缺陷检测系统，所述方法包括：

获取每个工业相机拍摄的待检测物的待检测图像；

根据目标图像检测模型以及所述待检测图像确定缺陷检测结果，所述缺陷检测结果包括缺陷的类型和所述缺陷的位置数据。