[实用新型]一种气测治具的密闭性检测结构

说明书

本实用新型公开了一种气测治具的密闭性检测结构，包括底座，底座上设进气通道、出气通道和下凹槽，下凹槽将底座划分为下定位区和下密封区，下定位区内设下定位块，下密封区内设密封件；底座上方设顶座，顶座内设上凹槽，上凹槽将顶座划分为上定位区和上封闭区，上定位区内设上定位块，上定位块内设固定盖。本实用新型通过在底座和顶座上设置凹槽、定位块、固定盖并匹配装设若干密封圈，实现将工件内部和外部完全隔离以形成两个封闭的检测环境；通过检测封闭环境内的气压变化，实现检测产品气密性的目的，可用于检测壳体类零件或成品的密封性能和防水性能，适用范围广且不会对产品造成不可逆的损伤，检测精准度高，不损伤工件，操作方便。

技术领域

本实用新型涉及测试治具技术领域,特别涉及一种气测治具的密闭性检测结构。

背景技术

随着市场对产品性能越来越高的要求，功能和外观检测已成为产品出厂前必经的工艺制程，各种测试治具也被广泛地应用在各种领域产品的生产制造当中。

在一些电子产品中，密闭性是产品最重要的要求之一，直接关系到产品的密封和防水性能，是产品功能测试的重点。生产中，通常都是在产品组装好之后再在较恶劣的环境下测试成品的密闭防水性能，虽然可直接一次性检测出良品和不良品，但检测出的不良品往往因为进水的原因，返修率低，大多数都只能直接报废，造成生产原料的浪费，增加了产品的生产成本；而且，这种检测方式还不能立即检测出具体的漏水零件，还需要技术人员进行后续分析判断，生产效率不高。

因此，有必要对密闭性能测试的方式进行改进。

实用新型内容

针对上述现有技术中存在的问题，本实用新型提供一种气测治具的密闭性检测结构，可配合常规气压仪器，利用封闭环境中气压的变化来检测产品的密闭性能，具有结构简单、不损伤产品、使用方便且可适用于零件和成品的密闭性能检测的特点。

为解决上述技术问题,本实用新型采取的一种技术方案如下:

一种气测治具的密闭性检测结构，包括：

底座，所述底座上设有进气通道、出气通道和若干封闭的下凹槽，若干所述下凹槽将所述底座划分为下定位区和下密封区；所述进气通道连通所述底座和所述定位区，所述出气通道连通所述底座和所述下密封区；

下定位块，与工件的内轮廓匹配并装设在所述下定位区内，所述下定位块上设有能与所述进气通道连通的进气孔；

密封件，包括分别装设在所述下密封区的内外边沿上的内密封圈和外密封圈；

顶座，垂直安设在所述底座的上方且与所述治具的驱动装置传动连接，包括设在所述顶座下端面的凸台，所述凸台内设有若干封闭的上凹槽，若干所述上凹槽将所述顶座划分为上定位区和上封闭区；所述驱动装置能驱动所述顶座垂直运动以将所述凸台紧压在所述外密封圈上；

上定位块，装设在所述上定位区内，所述上定位块上设有定位凹槽和第一出气孔；

固定盖，装设在所述定位凹槽内，所述固定盖的内壁能与工件外轮廓匹配，所述固定盖上设有第二出气孔；当所述凸台完全与所述外密封圈匹配时，所述固定盖的下端部与所述下定位块匹配连接并与所述内密封圈紧密贴合。

作为对上述技术方案的进一步阐述：

在上述技术方案中，所述下凹槽包括同心设置的三个凹槽，从外到内分别为第一凹槽、第二凹槽和第三凹槽，所述外密封圈内装设在所述第一凹槽内，所述内密封圈装设在所述第二凹槽内，所述下定位块装设在所述第三凹槽内。

在上述技术方案中，所述上凹槽包括同心设置的两个凹槽，从外到内分别为第四凹槽和第五凹槽，所述上定位块装设在所述第五凹槽内。