[实用新型]基于半导体制冷技术的高低温试验箱有效
申请号: | 202021529845.7 | 申请日: | 2020-07-29 |
公开(公告)号: | CN213023376U | 公开(公告)日: | 2021-04-20 |
发明(设计)人: | 程旭 | 申请(专利权)人: | 程旭 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01K1/02;B01L1/00;B01L7/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 230012 安徽省合肥市瑶海*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 半导体 制冷 技术 低温 试验 | ||
本实用新型涉及试验设备领域,尤其是涉及一种基于半导体制冷技术的高低温试验箱,包括箱体及箱盖,所述箱盖为拆卸式,在所述箱盖上设有两个把手,在所述箱体上设有制冷装置和制热装置,所述制冷装置包括安装在所述箱体上的半导体制冷片、风扇和散热片,所述制热装置包括安装在箱体上的硅胶发热片,还包括控制系统,所述控制系统包括依次相连的数字温度传感器、单片机及计算机构成,所述数字温度传感器安装在箱体内。本实用新型基于半导体制冷技术的高低温试验箱采用半导体进行制冷,无压缩机,在制冷过程中不会发生由于压缩机频繁启停而产生振动影响待测产品的精度。
技术领域
本实用新型涉及试验设备领域,尤其是涉及一种基于半导体制冷技术的高低温试验箱。
背景技术
高低温试验箱是一种用来测试电子工业产品环境可靠性和质量检验的设备,已广泛应用于军事装置、机器人、航天科研、工业控制等领域中。近年来随着半导体制冷技术的飞速发展,对温度控制精度的不断要求,目前市场上常见的高低温试验箱多以压缩机作为制冷装置,在压缩机启停时会引起很大的振动,这种振动会产能测量误差。
发明内容
为了克服现有技术的诸多缺陷,本实用新型提出了一种基于半导体制冷技术的高低温试验箱。
为解决上述技术问题,本实用新型采取如下技术方案:
基于半导体制冷技术的高低温试验箱,包括箱体及箱盖,所述箱盖为拆卸式,在所述箱盖上设有两个把手,在所述箱体上设有制冷装置和制热装置,所述制冷装置包括安装在所述箱体上的半导体制冷片、风扇和散热片,所述制热装置包括安装在箱体上的硅胶发热片,还包括控制系统,所述控制系统包括依次相连的数字温度传感器、单片机及计算机构成,所述数字温度传感器安装在箱体内。
优选地,在所述箱体的侧面还设有冷却装置,所述冷却装置由风机及罩在所述风机上的防护罩构成。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果为:
本实用新型基于半导体制冷技术的高低温试验箱采用半导体进行制冷,无压缩机,在制冷过程中不会发生由于压缩机频繁启停而产生振动影响待测产品的精度。
附图说明
图1为本实用新型主视结构示意图。
具体实施方式
参见附图1所示,基于半导体制冷技术的高低温试验箱,包括箱体1及箱盖2,所述箱盖2为拆卸式,在所述箱盖2上设有两个把手2-1,在所述箱体1上设有制冷装置3和制热装置4,所述制冷装置3包括安装在所述箱体1上的半导体制冷片、风扇和散热片,所述制热装置4包括安装在箱体1上的硅胶发热片,还包括控制系统,所述控制系统包括依次相连的数字温度传感器、单片机及计算机构成,所述数字温度传感器安装在箱体内。
优选地,在所述箱体1的侧面还设有冷却装置,所述冷却装置由风机5及罩在所述风机5上的防护罩6构成。
本实用新型主要用于工业精密元器件的测试,将待测产品放置到箱体1内后,再将箱盖2盖紧,通过计算机和单片机控制制冷装置3和制热装置4的交替或同时工作来营造需要的测试环境,数字温度传感器会将箱体1内温度参数实时发送给单片机并在计算机上进行显示,本实用新型基于半导体制冷技术的高低温试验箱采用半导体进行制冷,无压缩机,在制冷过程中不会发生由于压缩机频繁启停而产生振动影响待测产品的精度。
以上所述,仅是对本实用新型的较佳实施例而已,并非是对本实用新型做其他形式的限制,任何熟悉本专业的技术人员可能利用上述揭示的技术内容加以变更或改型为等同变化的等效实施例。但是,凡是未脱离本实用新型方案内容,依据本实用新型的技术实质对以上实施例所做的任何简单修改、等同变化与改型,仍属于本实用新型的保护范围。
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