[实用新型]指纹传感器芯片测试机构有效
申请号: | 202021692742.2 | 申请日: | 2020-08-13 |
公开(公告)号: | CN212781114U | 公开(公告)日: | 2021-03-23 |
发明(设计)人: | 李英才 | 申请(专利权)人: | 深圳市华宇福保半导体有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R1/04 |
代理公司: | 深圳市宏德雨知识产权代理事务所(普通合伙) 44526 | 代理人: | 李捷 |
地址: | 518000 广东省深圳市福田区福保街道福*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 指纹 传感器 芯片 测试 机构 | ||
本实用新型提供一种指纹传感器芯片测试机构,其包括固定架、测试板、测试支架和驱动装置,固定架包括底座和连接架,连接架可滑动的连接在底座上,测试板连接在连接架上方,内部设置有腔室,腔室用于放置指纹传感器芯片,下侧设置有导向板,导向板上设置有多个导向孔,测试支架设置在测试板下方,包括连接杆和橡胶头,多个橡胶头连接在连接杆上方,橡胶头用于从导向孔伸入腔室给指纹传感器芯片测试,驱动装置设置在固定架一侧,连接测试支架,用于驱动测试支架移动给指纹传感器芯片测试。本实用新型的指纹传感器芯片测试机构一个橡胶头同时测试两个芯片,测试支架一次同时对同一纵向的芯片测试,测试效率高。
技术领域
本实用新型涉及芯片测试技术领域,特别涉及一种指纹传感器芯片测试机构。
背景技术
随着目前手机的发展,指纹芯片已成为标配,它将大大提升手机的私密性与便捷性,更使移动支付变得更加安全。指纹识别在手机上的广泛应用,使得指纹识别芯片的测试也变的越来越重要。现有的指纹传感器芯片测试机构测试效率较低。
故需要提供一种指纹传感器芯片测试机构来解决上述技术问题。
实用新型内容
本实用新型提供一种指纹传感器芯片测试机构,以解决现有技术中的指纹传感器芯片测试机构多存在测试效率较低,以及各个部件的分布不够合理的问题。
为解决上述技术问题,本实用新型的技术方案为:一种指纹传感器芯片测试机构,其包括:
固定架,包括底座和连接架,所述连接架可滑动的连接在所述底座上;
测试板,连接在所述连接架上方,内部设置有腔室,所述腔室用于放置指纹传感器芯片,下侧设置有导向板,所述导向板上设置有多个导向孔;
测试支架,设置在所述测试板下方,包括连接杆和橡胶头,多个所述橡胶头连接在所述连接杆上方,橡胶头用于从所述导向孔伸入所述腔室给指纹传感器芯片测试;
驱动装置,设置在所述固定架一侧,连接所述测试支架,用于驱动测试支架移动给指纹传感器芯片测试。
本实用新型所述的指纹传感器芯片测试机构中,所述橡胶头下端设置有连接槽,所述连接杆上设置有连接头,所述连接头包括连接部和托板,所述连接部连接在所述橡胶头的连接槽内,所述托板连接在橡胶头下方。
本实用新型所述的指纹传感器芯片测试机构中,所述连接槽横截面为长方形,所述连接部为长方体结构,连接部连接在所述连接槽内。
本实用新型所述的指纹传感器芯片测试机构中,所述连接头与连接杆之间设置有弹簧,所述弹簧将连接头连接在连接杆上,弹簧用于缓冲。
本实用新型所述的指纹传感器芯片测试机构中,所述导向孔排列呈矩阵状,且间隔均匀设置,纵向排列数量与所述橡胶头个数对应,纵向排列位置与橡胶头位置对应。
本实用新型所述的指纹传感器芯片测试机构中,所述橡胶头呈长方体状,所述导向孔为方形孔。
本实用新型所述的指纹传感器芯片测试机构中,所述连接杆远离所述橡胶头一侧设置有纵向长槽孔,所述纵向长槽孔用于调节连接杆的纵向位置。
本实用新型所述的指纹传感器芯片测试机构中,所述底座上设置有横向滑轨和直线电机组,所述连接架下方对应所述横向滑轨位置设置有横向滑槽,所述横向滑槽连接横向滑轨;
所述直线电机组包括直线电机定子和直线电机动子,所述直线电机定子连接在底座上,所述直线电机动子连接在连接架上。
本实用新型所述的指纹传感器芯片测试机构中,所述连接架包括底板和垂直连接在底板两端的竖板,所述底板连接在底座上,所述竖板上方连接测试板。
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