[实用新型]大电流绝缘栅双极型晶体管器件有效

专利信息
申请号: 202022413927.1 申请日: 2020-10-27
公开(公告)号: CN214254425U 公开(公告)日: 2021-09-21
发明(设计)人: 郭家铭;俞仲威;黄国伦;张朝宗 申请(专利权)人: 开泰半导体(深圳)有限公司
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06;H01L29/739
代理公司: 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 代理人: 王健
地址: 518000 广东省深圳市坪山区坪山*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 电流 绝缘 栅双极型 晶体管 器件
【权利要求书】:

1.一种大电流绝缘栅双极型晶体管器件,其特征在于:包括:位于轻掺杂N型硅片本体(1)上部的P型掺杂阱层(2)、位于轻掺杂N型硅片本体(1)中部的轻掺杂N型漂移层(3)、位于轻掺杂N型硅片本体(1)中下部的轻掺杂N型缓冲层(4)和位于轻掺杂N型硅片本体(1)下部的重掺杂P型集电区层(5);

位于P型掺杂阱层(2)中且间隔设置的第一沟槽(6)、第二沟槽(7)延伸至轻掺杂N型漂移层(3)内,所述第一沟槽(6)、第二沟槽(7)内分别具有第一栅极部(8)、第二栅极部(9),此第一栅极部(8)、第二栅极部(9)与第一沟槽(6)、第二沟槽(7)之间分别通过第一栅氧化硅层(10)、第二栅氧化硅层(11)隔离;

位于第一沟槽(6)、第二沟槽(7)之间且在P型掺杂阱层(2)上部沿水平方向设置有重掺杂P型源极区(14)、重掺杂N型源极区(15),所述重掺杂P型源极区(14)位于第二沟槽(7)的周边,所述重掺杂N型源极区(15)位于第一沟槽(6)的周边;

所述重掺杂P型集电区层(5)与轻掺杂N型缓冲层(4)相背的表面覆盖有一集电极层(16),一发射极层(17)覆盖于重掺杂P型源极区(14)、重掺杂N型源极区(15)上表面,一第一栅电极层(12)、第二栅电极层(13)分别位于第一栅极部(8)、第二栅极部(9)上表面。

2.根据权利要求1所述的大电流绝缘栅双极型晶体管器件,其特征在于:所述第一栅氧化硅层(10)、第二栅氧化硅层(11)均为氧化硅层。

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