[实用新型]一种测试效果好的半导体器件用固定测试组件

权利要求书

1.一种测试效果好的半导体器件用固定测试组件，其特征在于：陶瓷固定座和测试片组件；待测芯片设置在陶瓷固定座上；所述测试片组件的一端引脚与陶瓷固定座上的待测芯片电连接，另一端引脚与测试PCB基板电连接；所述测试片组件包括对称设置的两个测试片机构；所述测试片机构包括测试片固定座、测试片组和固定板；所述测试片组固定在测试片固定座内；所述固定板盖在测试片固定座上，用于限位测试片组。

2.根据权利要求1所述的测试效果好的半导体器件用固定测试组件，其特征在于：所述测试片组为3组测试片组；所述每组测试片组为2片测试片，形成一路左右开尔文；所述测试片固定座内设有卡槽；所述测试片下方设有卡扣；所述测试片通过卡扣卡槽配合固定在测试片固定座内。

3.根据权利要求2所述的测试效果好的半导体器件用固定测试组件，其特征在于：所述陶瓷固定座包括固定块、活动块、定位陶瓷块和缓冲机构；所述固定块上部内开有凹槽；所述定位陶瓷块通过活动块设置在凹槽内；所述定位陶瓷块的顶部设有定位待测芯片的定位槽；所述缓冲机构与固定块下部连接。

4.根据权利要求3所述的测试效果好的半导体器件用固定测试组件，其特征在于：所述缓冲机构包括一组左右对称设置的导向机构和下压缓冲机构；所述导向机构包括导向柱和导向轴承；所述导向柱与固定块下部相连；所述导向轴承设置在导向柱外；所述下压缓冲机构包括下压高度限位轴和悬浮压缩缓冲弹簧；所述下压高度限位轴与活动块相连；所述悬浮压缩缓冲弹簧设置在下压高度限位轴外，与固定块下部相连。