[发明专利]用于促进多种测试模式的测试访问端口架构

权利要求书

1.一种存储器子系统控制器，其包括：

一组引脚；

测试模式寄存器，所述测试模式寄存器用于存储寄存器命令，所述寄存器命令用于将所述存储器子系统控制器从第一测试模式切换到第二测试模式；以及

测试访问端口控制器，所述测试访问端口控制器用于执行包括以下的操作：

启动所述第一测试模式，所述启动所述第一测试模式包括根据第一引脚协议配置所述一组引脚，所述根据所述第一引脚协议配置所述一组引脚包括：

分配第一引脚接收第一测试模式数据，所述第一测试模式数据是基于与所述第一测试模式相对应的第一协定生成的；以及

分配第二引脚输出第一测试结果数据，所述第一测试结果数据是通过将所述第一测试模式数据应用于所述存储器子系统控制器而产生的；

检测存储在所述测试模式寄存器中的所述寄存器命令；以及

基于检测到所述寄存器命令，启动所述第二测试模式，所述启动所述第二测试模式包括根据第二引脚协议重新配置所述一组引脚，所述根据所述第二引脚协议重新配置所述一组引脚包括：

重新分配所述第一引脚接收第二测试模式数据，所述第二测试模式数据是基于与所述第二测试模式相对应的第二协定生成的；以及

重新分配所述第二引脚输出第二测试结果数据，所述第二测试结果数据是通过将所述第二测试模式数据应用于所述存储器子系统控制器而产生的。

2.根据权利要求1所述的存储器子系统控制器，其中：

所述第一测试模式是联合测试行动组(JTAG)模式，所述JTAG模式使得能够基于JTAG测试向量对所述存储器子系统控制器进行测试；

所述第一测试模式数据是基于所述JTAG测试向量生成的；

所述第二测试模式是扫描模式，所述扫描模式促进基于自动测试模式生成(ATPG)测试向量对所述存储器子系统控制器进行测试；并且

所述第二测试模式数据是基于所述ATPG测试向量生成的。

3.根据权利要求2所述的存储器子系统控制器，其中所述根据所述第一引脚协议配置所述一组引脚进一步包括：

分配第三引脚作为测试模式选择引脚接收测试模式选择信号；

分配第四引脚作为测试复位引脚接收测试复位信号；以及

分配第五引脚作为测试时钟引脚接收测试时钟信号。

4.根据权利要求3所述的存储器子系统控制器，其中所述根据所述第二引脚协议重新配置所述一组引脚进一步包括：

重新分配所述第三引脚作为扫描启用引脚接收扫描启用信号；

重新分配所述第四引脚作为扫描复位引脚接收扫描复位信号；以及

重新分配所述第五引脚作为扫描时钟引脚接收扫描时钟信号。

5.根据权利要求1所述的存储器子系统控制器，其中所述测试访问端口控制器被进一步配置成执行包括以下的操作：

检测所述存储器子系统控制器处的电力循环；以及

基于所述存储器子系统控制器处的所述电力循环恢复到所述第一测试模式，所述恢复到所述第一测试模式包括根据所述第一引脚协议配置所述一组引脚。

6.根据权利要求5所述的存储器子系统控制器，其中所述操作进一步包括：

当处于所述第一测试模式时，检测所述一组引脚中的第三引脚上断言的测试模式选择信号；以及

基于检测到所述一组引脚中的所述第三引脚上断言的所述测试模式选择信号来启动第三测试模式，所述启动所述第三测试模式包括根据第三引脚协议重新配置所述一组引脚。

7.根据权利要求6所述的存储器子系统控制器，其中所述根据所述第三引脚协议重新配置所述一组引脚包括：

将所述一组引脚中的所述第三引脚的引脚分配从测试模式选择引脚改变为边界扫描模式引脚。

8.根据权利要求6所述的存储器子系统控制器，其中所述第三测试模式是边界扫描模式。