[发明专利]测距方法、测距装置以及程序

说明书

本公开所涉及的测距方法包含如下工序：在对物体照射背景光的环境下对该背景光的照度进行测光(步骤S300)；基于该背景光的照度来设定测距范围(步骤S310)；基于所设定的测距范围来设定包含分别具有APD(Avalanche Photo Diode，雪崩光电二极管)的多个像素在内的摄像部的摄像条件以及使光源出射光的出射条件(步骤S320)；和通过基于所设定的摄像条件以及出射条件控制摄像部以及光源来进行与该物体的距离的测定(步骤S330)。

技术领域

本公开涉及测距方法、测距装置以及程序。

背景技术

过去，有使用近红外光等光来测定与成为对象的物体的距离的测距装置(例如参考专利文献1)。

专利文献1记载的作为测距装置的雷达装置具备：对成为对象的物体照射照射光的激光二极管；被入射在该物体反射该照射光而得到的光即反射光、将入射的反射光变换成信号的第1受光电路以及第2受光电路；和CPU(Central Processing Unit，中央处理器)。另外，CPU根据从2个受光电路分别输出的2个信号，来生成使与入射的反射光的光量值成比例的信号中的能输出的光量值的范围即激活区域(能勋领域)比原本的2个信号更宽的合成信号。

如此一来，在现有的测距装置中，即使是宽的动态范围的反射光，也能测定正确的距离。另外，在现有的测距装置中，在2个受光电路当中一方的受光电路中使用APD(Avalanche Photo Diode，雪崩光电二极管)。APD为通过采用雪崩击穿将由于入射到光电变换层的光被光电变换而产生的电荷进行倍增(即雪崩倍增)来提高光检测灵敏度的光电二极管。根据APD，即使是低亮度的反射光入射了的情况下，也能从受光电路输出与该反射光的光量成比例的信号。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：JP特开2008-20203号公报

发明内容

发明要解决的课题

过去，为了高精度地检测反射光，存在使用太阳光等外光即背景光来补正入射到受光电路的光的光量的技术。在此，例如在背景光是太阳光的情况下，根据时刻或天气等而背景光的光量不同。若背景光的光量不同，则反射光的光量与背景光的光量的差变得过小，根据情况而不能检测反射光。在现有的测距装置中，有要算出根据背景光的光量不能测定的距离的问题。

本公开提供能合适地测定距离的测距方法等。

用于解决课题的手段

本公开的一个方式所涉及的测距方法包含如下工序：在对物体照射背景光的环境下对所述背景光的照度进行测光；基于所述背景光的照度来设定测距范围；基于所设定的测距范围来设定包含分别具有APD(Avalanche Photo Diode，雪崩光电二极管)的多个像素在内的摄像部的摄像条件以及使光源出射光的出射条件；和通过基于所设定的所述摄像条件以及所述出射条件控制所述摄像部以及所述光源来进行与所述物体的距离的测定。

另外，本公开的一个方式所涉及的测距装置具备：测光部，其在对物体照射背景光的环境下对所述背景光的照度进行测光；运算部，其基于所述背景光的照度来设定测距范围；和控制部，其基于所设定的测距范围来设定包含分别具有APD(Avalanche PhotoDiode，雪崩光电二极管)的多个像素在内的摄像部的摄像条件以及使从光源出射光的出射条件，通过基于所设定的所述摄像条件以及所述出射条件控制所述摄像部以及所述光源来进行与所述物体的距离的测定。

另外，本公开也可以作为使计算机执行上述测距方法中所含的步骤的程序来实现。另外，本公开也可以作为记录了该程序的能由计算机读取的CD-ROM等非暂时的记录介质来实现。另外，本公开也可以作为表示该程序的信息、数据或信号来实现。并且，这些程序、信息、数据以及信号也可以经由因特网等通信网络发布。

发明的效果