[发明专利]一种显示模组中各向异性导电膜粒子的检测方法

说明书

本发明的一个实施例公开了一种显示模组中各向异性导电膜(ACF)粒子的检测方法，所述方法包括：S101：接收包含ACF粒子的图像；S103：获取所述图像中的感兴趣区域的图像数据；S105：利用滤波器模型对所述图像数据进行相关性计算，得到ACF粒子响应图像；S107：对所述响应图像进行阈值分割，在图像上标记出所述ACF粒子。

技术领域

本发明涉及图像目标检测技术领域，具体涉及一种显示模组中各向异性导电膜粒子的检测方法。

背景技术

各向异性导电膜(ACF，Anisotropic Conductive Film)是智能手机触摸屏的重要组成部分，ACF粒子是其中实现触摸屏本体的电极和驱动IC中电极的机械和电气连接的关键部分，对热压合后的ACF粒子的检测是判断触摸屏的功能是否达标的重要依据。ACF粒子的分布模式固定、压合特征明显，适合采用自动光学检测(AOI)系统进行检测。与人工检测相比，基于AOI的检测系统具有效率高、精度高等特点，对于行业规模化生产具有重要意义。AOI系统中提高粒子提取精度的关键在于系统前端图像获取和系统后端图像处理的效果。

发明内容

本发明的目的在于提供一种显示模组中各向异性导电膜(ACF)粒子的检测方法，通过本方法可以对不同场景下ACF粒子图像数据学习到最优滤波器模型，通过相关图像求解，得出粒子的亮暗部分响应，基于简单的阈值分割算法检测到粒子区域。

为达到上述目的，本发明采用下述技术方案：

本发明一方面提供一种显示模组中各向异性导电膜(ACF)粒子的检测方法，所述方法包括：

S101：接收包含ACF粒子的图像；

S103：获取所述图像中的感兴趣区域的图像数据；

S105：利用滤波器模型对所述图像数据进行相关性计算，得到ACF粒子响应图像；

S107：对所述响应图像进行阈值分割，在图像上标记出所述ACF粒子。

在一个具体实施例中，还包括：

S100、利用检测目标训练集和对应的响应输出训练得到滤波器模型，包括：

S1000、获取频域训练样本F_i和对应的频域响应输出G_i，其中所述响应输出由高斯函数产生，并且其峰值位置为F_i的中心位置，i为样本数；

S1005、基于相关性公式，构建输入图像和响应输出的函数关系：

其中，g为响应输出，f为输入图像，h为滤波器模型，a，b和k，l为图像的像素的行列值；

S1010、对公式1进行快速傅里叶变换，得到

其中，*表示复共轭；

S1015、将公式2表述为公式3：

G＝F·H^* 公式3；

S1020、根据公式3得到

S1025、基于公式4，基于检测目标训练集的m个频域训练样本，得到

S1030、使公式5中每个元素的误差最小平方和最小，得到

其中，w和v是H中每个元素的位置索引；

S1035、对公式6求偏导，并使得偏导为0，得到频域内的所述滤波器模型：