[发明专利]基于时延法测量二维电子密度剖面的太赫兹微波干涉阵列有效
| 申请号： | 202110137113.6 | 申请日： | 2021-02-01 |
| 公开（公告）号： | CN112992387B | 公开（公告）日： | 2023-10-13 |
| 发明（设计）人： | 王正汹;施培万;朱霄龙 | 申请（专利权）人： | 大连理工大学 |
| 主分类号： | G21B1/23 | 分类号： | G21B1/23 |
| 代理公司： | 大连理工大学专利中心 21200 | 代理人： | 隋秀文;温福雪 |
| 地址： | 116024 辽*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 基于 时延法 测量 二维 电子密度 剖面 赫兹 微波 干涉 阵列 | ||
1.一种基于时延法测量二维电子密度剖面的太赫兹微波干涉阵列，其特征在于，所述的基于时延法测量二维电子密度剖面的太赫兹微波干涉阵列包括晶体振荡器(1)、六公分器(2)、点频源(3)、太赫兹倍频器(4)、集成单元(5)、微波波导(6)、太赫兹相控阵天线(7)和中央处理器(8)，其中集成单元(5)包括第一二公分器(51)和第二二公分器(54)、第一可编程微波开关(52i)和第二可编程微波开关(52ii)、太赫兹混频器(53)、放大器(55)、检波器(56)和采集器(57)，第一二公分器(51)和第二二公分器(54)两个输出端口记为i和ii；
晶体振荡器(1)的输出端与六公分器(2)的输入端连接，六公分器(2)的输出端与点频源(3)的输入端连接，点频源(3)的输出端与太赫兹倍频器(4)的输入端连接，太赫兹倍频器(4)的输出端与第一二公分器(51)输入端连接、第一二公分器(51)输出端i与第一可编程微波开关(52i)输入端连接，第一可编程微波开关(52i)输出端与太赫兹混频器(53)本振端相连，太赫兹混频器(53)输出端与放大器(55)输入端相连，放大器(55)输出端与检波器(56)输入端相连，检波器(56)输出端与采集器(57)相连；太赫兹混频器(53)射频端与第二二公分器(54)的输出端i连接，第二二公分器(54)的输入端与微波波导(6)连接，微波波导(6)另外一端与太赫兹相控阵天线(7)连接，太赫兹相控阵天线(7)与中央处理器(8)连接；同时，中央处理器(8)与第一可编程微波开关(52i)和第二可编程微波开关(52ii)及采集器(57)相连；第一二公分器(51)输出端ii和第二二公分器(54)输出端ii通过第二可编程微波开关(52ii)直接连接；
所述的点频源(3)、太赫兹倍频器(4)、集成单元(5)、微波波导(6)和太赫兹相控阵天线(7)均由六个子单元构成，并依次与六公分器(2)的六个输出端连接。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于大连理工大学，未经大连理工大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110137113.6/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
