[发明专利]一种芯片测试电路

权利要求书

1.一种芯片测试电路，其特征在于，包括：

第一端分别与驱动芯片的N个输出通道一一对应连接，第二端分别与M个测试通道连接的N个开关，用于基于处理器的控制将与自身连接的所述芯片的输出通道和所述测试通道之间的电路导通或关断；M为不小于1的整数，N为大于M的整数；

M个输入端分别与M个所述测试通道一一对应连接，信号输出端分别一一对应与N个所述开关的控制端连接的所述处理模块，用于控制与各个所述测试通道连接的多个所述开关分别按照预设频率依次导通与关断，以使所述驱动芯片的各个输出通道分别按照所述预设频率依次通过与自身对应的所述测试通道输出驱动电压；还用于基于各个所述测试通道输出的所述驱动电压判断所述驱动芯片是否正常工作。

2.如权利要求1所述的芯片测试电路，其特征在于，所述处理模块包括：

信号输出端为所述处理器的信号输出端的处理器，用于控制与各个所述测试通道连接的多个所述开关分别按照预设频率依次导通与关断，以使所述驱动芯片的各个输出通道分别按照所述预设频率依次通过与自身对应的所述测试通道输出驱动电压；

各个输入端分别一一对应为所述处理模块的各个输入端的测试机，用于基于各个所述测试通道输出的所述驱动电压判断所述驱动芯片是否正常工作。

3.如权利要求2所述的芯片测试电路，其特征在于，所述测试机包括：

晶圆CP测试针卡，所述CP测试针卡的各个探针分别一一对应为所述测试机的各个输入端，用于与各个所述测试通道连接，以接收所述驱动芯片的各个输出通道通过所述测试通道输出的驱动电压，使所述测试机基于各个所述测试通道输出的所述驱动电压判断相应的所述驱动芯片是否正常工作。

4.如权利要求1所述的芯片测试电路，其特征在于，N个所述开关的第二端均与一个测试通道连接，M为1。

5.如权利要求1-4任一项所述的芯片测试电路，其特征在于，还包括：

与所述处理模块的输出端连接的提示模块，用于基于所述处理模块的判断结果对用户进行相应的提示。

6.如权利要求5所述的芯片测试电路，其特征在于，所述提示模块为声音提示模块和/或显示提示模块。

7.如权利要求6所述的芯片测试电路，其特征在于，所述声音提示模块为蜂鸣器。

8.如权利要求6所述的芯片测试电路，其特征在于，所述显示提示模块为指示灯。