[发明专利]一种芯片测试电路

说明书

本发明公开了一种芯片测试电路，包括设置于驱动芯片的N个输出通道与M个测试通道之间的N个开关和处理模块，处理模块控制各个开关的导通与关断。由于M是小于N的整数，驱动芯片的多个输出通道可依次通过一个测试通道输出驱动电压，处理模块无需与驱动芯片所有输出通道连接，仅与相应的测试通道连接即可接收驱动芯片的各个输出通道输出的驱动电压，以判断驱动芯片是否正常工作。本申请中的处理模块无需设置与驱动芯片的输出通道的数量相等的输入端即可对驱动芯片的各个输出通道输出的驱动电压进行测试，降低成本。且当处理模块的输入端的数量大于M时，处理模块可与多个驱动芯片对应的测试通道连接以对多个驱动芯片进行测试，提高测试的效率。

技术领域

本发明涉及电力电子领域，特别是涉及一种芯片测试电路。

背景技术

为了使显示面板显示相应的画面，现有技术中通常通过驱动芯片接收处理器发送的控制信号，从而通过与显示面板上各个亚像素点连接的输出通道输出相应的驱动电压，以使显示面板上各个亚像素点显示不同的颜色，从而使显示面板显示最终的画面。

由于亚像素点上每个颜色对应的驱动电压不同，为了使显示面板显示的画面与期望画面一致且保证其还原性，需要在对驱动芯片进行CP测试(Chip Probing，圆晶测试)时对其输出的驱动电压进行测试，也即测试驱动芯片输出的各个驱动电压是否满足相应的期望电压值。

在测试时，通常将测试机的CP测试针卡上的探针分别一一对应与驱动芯片上的各个输出通道连接，通过测试驱动芯片上各个输出通道输出的驱动电压是否满足期望电压值，也即驱动芯片输出的驱动电压能否使显示面板显示响应的画面，来判断该驱动芯片是否满足要求。但是，大尺寸的显示面板，例如电视，或者高分辨率的显示面板，例如手机屏和电脑显示屏等，通常需要6颗或者12颗驱动芯片，由于每个驱动芯片的输出通道较多，例如每个驱动芯片可能会设有1026个、966个或960个输出通道，若想对多个芯片的多个输出通道进行测试，对CP测试针卡的要求较高，也即CP测试针卡需要设置多个探针，且各个探针之间的间距需设置在微米级，制造成本也较高；此外，由于多个驱动芯片的输出通道较多，受限于CP测试针卡的探针的数量，每次只能测试一个芯片，测试的效率较低，费用较高。

发明内容

本发明的目的是提供一种芯片测试电路，处理模块无需设置与驱动芯片的输出通道的数量相等的输入端即可对驱动芯片的各个输出通道输出的驱动电压进行测试，降低成本。且当处理模块的输入端的数量大于M时，处理模块可与多个驱动芯片对应的测试通道连接以对多个驱动芯片进行测试，提高测试的效率。

为解决上述技术问题，本发明提供了一种芯片测试电路，包括：

第一端分别与驱动芯片的N个输出通道一一对应连接，第二端分别与M个测试通道连接的N个开关，用于基于处理器的控制将与自身连接的所述芯片的输出通道和所述测试通道之间的电路导通或关断；M为不小于1的整数，N为大于M的整数；

M个输入端分别与M个所述测试通道一一对应连接，信号输出端分别一一对应与N个所述开关的控制端连接的所述处理模块，用于控制与各个所述测试通道连接的多个所述开关分别按照预设频率依次导通与关断，以使所述驱动芯片的各个输出通道分别按照所述预设频率依次通过与自身对应的所述测试通道输出驱动电压；还用于基于各个所述测试通道输出的所述驱动电压判断所述驱动芯片是否正常工作。

优选地，所述处理模块包括：

信号输出端为所述处理器的信号输出端的处理器，用于控制与各个所述测试通道连接的多个所述开关分别按照预设频率依次导通与关断，以使所述驱动芯片的各个输出通道分别按照所述预设频率依次通过与自身对应的所述测试通道输出驱动电压；

各个输入端分别一一对应为所述处理模块的各个输入端的测试机，用于基于各个所述测试通道输出的所述驱动电压判断所述驱动芯片是否正常工作。

优选地，所述测试机包括：