[发明专利]电磁光一体化测试的物理特性综合测试系统

权利要求书

1.电磁光一体化测试的物理特性综合测试系统，其特征在于：其包括光源、样品台和光电性能测试仪；光源设于样品台的上方并发射模拟太阳光，样品台的上表面设有块状样品放置台，块状样品放置台具有多种不同规格的样品限位槽，块状样品放置台的底面设置材料槽，材料槽的一端开口位于样品台的正面，材料槽内放置导电抗磁材料，导电抗磁材料与块状样品放置台上放置的块状样品的底面接触，样品台的正面对应材料槽的两侧分别设有一螺丝钉锁孔，螺丝钉锁孔内锁附有螺丝钉，导电抗磁材料延伸出材料槽缠部分绕于螺丝钉上，光电性能测试仪的测试端连接至螺丝钉；样品台底部具有正面开口的磁体放置腔，磁体放置腔内可更换放置有磁体放置器，磁体放置器的上端面设有磁体定位槽，磁体定位槽固定有磁体。

2.根据权利要求1所述的电磁光一体化测试的物理特性综合测试系统，其特征在于：磁体放置器根据所需磁场强度具有多种不同高度规格。

3.根据权利要求2所述的电磁光一体化测试的物理特性综合测试系统，其特征在于：磁体放置器有三种高度规格，分别为高1cm*长10.5cm*宽5.5cm、高1.5cm*长10.5cm*宽5.5cm及高2cm*长10.5cm*宽5.5cm的磁体放置器。

4.根据权利要求3所述的电磁光一体化测试的物理特性综合测试系统，其特征在于：磁体放置腔的规格大小为长11cm*宽5.6cm*高6cm。

5.根据权利要求1所述的电磁光一体化测试的物理特性综合测试系统，其特征在于：样品限位槽的规格有0.5cm*0.5cm、1cm*1cm或1cm*0.5cm及2cm*2cm或2cm*1cm。

6.根据权利要求1所述的电磁光一体化测试的物理特性综合测试系统，其特征在于：样品台的上表面还设有磁体放置器观测槽孔，磁体放置器观测槽孔用于观测磁体放置器是否处于同一位置。

7.根据权利要求1所述的电磁光一体化测试的物理特性综合测试系统，其特征在于：螺丝钉采用抗磁导电材料或者非抗磁导电材料成型；螺丝钉的直径略大于螺丝钉锁孔的直径。

8.根据权利要求1所述的电磁光一体化测试的物理特性综合测试系统，其特征在于：样品台的高度为7.7cm，样品台与光源的距离满足光到达样品处的距离达到太阳能标准测试条件。

9.根据权利要求1所述的电磁光一体化测试的物理特性综合测试系统，其特征在于：磁体定位槽内放置长为4cm*宽为6cm的磁体。