[发明专利]数据处理方法、装置、存储介质及电子设备有效
申请号: | 202110446638.8 | 申请日: | 2021-04-25 |
公开(公告)号: | CN113132647B | 公开(公告)日: | 2023-01-20 |
发明(设计)人: | 孟昭晖;董学;孙伟;张永忠;冯薏霖 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司 |
主分类号: | H04N23/95 | 分类号: | H04N23/95;H04N23/71 |
代理公司: | 北京金信知识产权代理有限公司 11225 | 代理人: | 崔家源;范继晨 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 数据处理 方法 装置 存储 介质 电子设备 | ||
1.一种数据处理方法,其特征在于,包括:
按照预定采样方式获取各个感光元件采集到的光环境信息,以得到多个高频采样区域,其中,所述预定采样方式为按照N*N感光元件采样阵列采样、且每次采样后位移M行或P列的方式,所述M、P和N均为大于或等于1的整数;
按照预定处理需求将所述高频采样区域对应的光环境信息矩阵与预定高斯矩阵进行卷积处理,以得到与所述高频采样区域对应的显示区域的显示数据,其中,所述预定高斯矩阵为N*N型矩阵;所述高频采样区域对应的显示区域为所述高频采样区域中心点的所述感光元件所对应的显示区域;
根据预定显示规则对全部或部分所述显示区域的显示数据进行处理,以得到待显示信息;
其中,所述按照预定处理需求将所述高频采样区域对应的光环境信息矩阵与预定高斯矩阵进行卷积处理,包括:
根据接收到的显示清晰度参数在全部所述高频采样区域中确定参与所述卷积处理的部分所述高频采样区域;
将部分所述高频采样区域对应的光环境信息矩阵与所述预定高斯矩阵进行卷积处理。
2.如权利要求1所述的数据处理方法,其特征在于,所述按照预定采样方式获取各个感光元件采集到的光环境信息,以得到多个高频采样区域,包括:
采样步骤:按照所述N*N感光元件采样阵列对各个感光元件采集到的光环境信息进行采样,以生成一个所述高频采样区域;
第一移动步骤:将所述N*N感光元件采样阵列同步向未采样的列方向移动P列;或者,将所述N*N感光元件采样阵列同步向未采样的行方向移动M行;
第二移动步骤:将所述N*N感光元件采样阵列向未采样的行方向移动M行;或者,将所述N*N感光元件采样阵列向未采样的列方向移动P列;
其中,先执行所述采样步骤和所述第一移动步骤;在所述第一移动步骤完成后,按照所述采样步骤继续对光环境信息进行采样,并交替执行所述第一移动步骤和所述采样步骤,直到所述N*N感光元件采样阵列所在行或列的光环境信息均被采样完,执行所述第二移动步骤;在所述第二移动步骤完成后,再交替执行所述采样步骤和所述第一移动步骤,直至全部的光环境信息均被采样完。
3.如权利要求2所述的数据处理方法,其特征在于,所述按照预定采样方式获取各个感光元件采集到的光环境信息,以得到多个高频采样区域之前,还包括:
根据接收到的显示清晰度参数确定每次采样后位移时M和P的取值。
4.如权利要求1至3中任一项所述的数据处理方法,其特征在于,所述得到待显示信息之前,还包括:
对其它显示区域进行插黑帧处理,其中,所述其它显示区域为全部感光元件所对应的显示区域中未得到所述显示数据的区域。
5.如权利要求1至3中任一项所述的数据处理方法,其特征在于,
所述高频采样区域对应的显示区域为所述高频采样区域的中心感光元件所对应的显示区域;或者,
所述高频采样区域对应的显示区域为所述高频采样区域中最靠近中心点的感光元件的所对应的显示区域,其中,所述中心点为在全部感光元件中的中心点位置。
6.如权利要求1至3中任一项所述的数据处理方法,其特征在于,所述M的取值等于所述P的取值。
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