[发明专利]一种屏幕缺陷的检测方法有效
申请号: | 202110588028.1 | 申请日: | 2021-05-27 |
公开(公告)号: | CN113390611B | 公开(公告)日: | 2022-07-12 |
发明(设计)人: | 徐博超;张莲莲;李伟;田永军;陶平;靳松;陈永超;陈晨 | 申请(专利权)人: | 北京兆维科技开发有限公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02;G01N21/95;G01N21/01 |
代理公司: | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人: | 李昆蔚 |
地址: | 100015 北京市朝阳*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 屏幕 缺陷 检测 方法 | ||
1.一种屏幕缺陷的检测方法,其特征在于,包括以下步骤:
将屏幕处于黑画面和亮画面状态下拍摄,获得黑画面图像和亮画面图像,确定缺陷位置和确定缺陷处于黑画面或亮画面中;
当在黑画面存在缺陷时,根据黑画面图像对缺陷提取,并对缺陷检测,确定缺陷所在层级,即为缺陷信息A;
当在亮画面存在缺陷时,根据亮画面图像对缺陷提取,并对缺陷检测,确定缺陷所在层级,即为缺陷信息B;
根据亮画面图像,获得屏幕表面灰尘脏污的干扰缺陷;
将缺陷信息A或缺陷信息B去除得到的干扰缺陷,即检测出屏幕缺陷;
所述根据黑画面图像对缺陷提取,并对缺陷检测,确定缺陷所在层级,
包括以下步骤:
对黑画面图像的CF层及其附近层的图像检测,获取区域特征,将区域特征与预设值比较,当区域特征大于预设值时,确定为疑似缺陷;
将疑似缺陷带入清晰度评价函数中,计算得到清晰度分数,得到的清晰度分数的数值大的为具有疑似缺陷层级,即为疑似缺陷所在层级;将疑似缺陷所在层级进行颜色判定,确定疑似缺陷颜色,再进行亮度判定,得到疑似缺陷单一颜色亮度,将疑似缺陷单一颜色亮度与预设标准值比较,若疑似缺陷单一颜色亮度大于预设标准值,则判定为缺陷,则得到缺陷所在层级,反之,则判定为不是缺陷;
所述清晰度评价函数为:Score=S+∑G(x,y)-S*G(layer);
其中,(x,y)为缺陷区域,G为缺陷区域的灰度值,S为缺陷区域的缺陷面积,G(layer)为各层灰度矫正常数。
2.根据权利要求1所述的屏幕缺陷的检测方法,其特征在于,所述对黑画面图像的CF层及其附近层的图像检测,获取区域特征,包括以下步骤:
将黑画面图像的CF层及其附近层按照RGB三原色进行三个通道分层,得到单色图像;
将得到的单色图像进行形态学操作,确实缺陷区域,对缺陷区域测量,即得到区域特征。
3.根据权利要求2所述的屏幕缺陷的检测方法,其特征在于,所述区域特征包括缺陷面积、凸度、主骨架长度、等效椭圆各主轴长度或离散度。
4.根据权利要求1所述的屏幕缺陷的检测方法,其特征在于,所述根据亮画面图像对缺陷提取,并对缺陷检测,确定缺陷所在层级,包括以下步骤:
将亮画面图像的CF层及其附近层的缺陷像素提取,根据缺陷像素计算出图像矫正角度,并矫正亮画面图像,得到矫正亮画面图像;
将矫正亮画面图像进行区域分割,得到多个单元集,对多个单元集中的单个单元进行逐一检测是否存在缺陷,若有缺陷,则为异常单元;
对异常单元内的缺陷分割,得到单元缺陷区域,确定单元缺陷区域的所在层级的信息;
将单元缺陷区域合并,即得到缺陷所在层级。
5.根据权利要求4所述的屏幕缺陷的检测方法,其特征在于,所述将亮画面图像的CF层及其附近层的缺陷像素提取,根据缺陷像素计算出图像矫正角度,包括以下步骤:
对亮画面图像的CF层及其附近层的缺陷像素粗提取,得到多个完整像素;
将多个完整像素的中心按照每行进行直线拟合,得到多行直线段,测出多行直线段与水平轴的夹角,取平均值,得到图像矫正夹角。
6.根据权利要求5所述的屏幕缺陷的检测方法,其特征在于,所述对异常单元内的缺陷分割,得到单元缺陷区域,包括以下步骤:
将异常单元内的缺陷按照RGB三原色进行分离,得到子像素,将子像素生成对应的点灰度阈值分布函数,利用水漫填充,即得到完整单元缺陷区域。
7.根据权利要求1所述的屏幕缺陷的检测方法,其特征在于,所述根据亮画面图像,获得屏幕表面灰尘脏污的干扰缺陷,包括以下步骤:
对亮画面图像的CG盖板层图像进行检测,采用均值滤波预处理,并与亮画面图像进行绝对值相减,得到灰尘脏污的基础区域,即得到干扰缺陷。
8.根据权利要求1-7任一项所述的屏幕缺陷的检测方法,其特征在于,所述屏幕缺陷包括麻点类缺陷、亮点类缺陷或两点类缺陷。
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