[发明专利]元件下降速度补偿方法、装置、电子设备和存储介质有效

专利信息
申请号: 202110696096.X 申请日: 2021-06-23
公开(公告)号: CN113399305B 公开(公告)日: 2023-04-14
发明(设计)人: 孟叶;高晓艺 申请(专利权)人: 苏州英诺威视图像有限公司
主分类号: B07C5/342 分类号: B07C5/342;B07C5/36
代理公司: 北京远智汇知识产权代理有限公司 11659 代理人: 范坤坤
地址: 215000 江苏省苏州市苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 元件 下降 速度 补偿 方法 装置 电子设备 存储 介质
【说明书】:

发明实施例公开了一种元件下降速度补偿方法、装置、电子设备和存储介质。该元件下降速度补偿方法包括:获取待补偿元件在受到干扰因素影响后,在预设距离内的下降时长;根据下降时长确定待补偿元件在预设距离开始点的初始下降速度;根据初始下降速度对待补偿元件在预设距离后的下降过程进行速度补偿,以确定待补偿元件在下降过程中预设高度处的下降时间。本发明实施例补偿在自由落体元件下降过程中,由于重力和摩擦力对元件的影响不同,造成元件初始下降速度不同,以保证后续相机对元件进行拍照都处于同一最佳位置。

技术领域

本发明实施例涉及自动化技术领域,尤其涉及一种元件下降速度补偿方法、装置、电子设备和存储介质。

背景技术

在工业自动化生产中,有对自由落体下降过程中的元件进行拍照的需求,根据拍照结果分析外观无瑕疵的合格品和有瑕疵的不合格品。因此需要保证元件在成像结果中的外观完整性,即保证相机在元件的同一下降位置进行拍照。

然而由于元件下降过程中,存在初始下降高度的差异,且该差异测量难度大;并且由于元件下降时开始掉落的接触点不同,需要对元件进姿态一致化处理操作,该操作也会对元件下降的速度产生影响。若相机按照同一拍照时间对元件进行拍照,则会导致元件在成像结果中位置不稳定,上下位置发生偏差的结果,影响后续对元件的外观分析结果。

发明内容

本发明实施例提供一种元件下降速度补偿方法、装置、电子设备和存储介质,提高了相机对下降过程中的元件的抓拍位置准确率。

第一方面,本发明实施例提供了一种元件下降速度补偿方法,待补偿元件在自由落体下降前的速度受到干扰因素影响,包括:

获取所述待补偿元件在受到干扰因素影响后,在预设距离内的下降时长;

根据所述下降时长确定所述待补偿元件在预设距离开始点的初始下降速度;

根据所述初始下降速度对所述待补偿元件在所述预设距离后的下降过程进行速度补偿,以确定所述待补偿元件在下降过程中预设高度处的下降时间。

可选的,在受到干扰因素影响后的下降过程中设置光纤传感器;

相应的,获取所述待补偿元件在受到干扰因素影响后,在预设距离内的下降时长,包括:

确定所述待补偿元件到达光纤传感器的开始时间,以及脱离光纤传感器的结束时间;

根据所述开始时间和所述结束时间确定下降时长;其中,所述预设距离为所述待补偿元件的长度。

可选的,根据所述下降时长确定所述待补偿元件在预设距离开始点的初始下降速度,包括:

根据如下公式确定所述初始下降速度:

其中,V0表示初始下降速度,l表示所述预设距离,t表示所述下降时长,g表示自由落体的重力加速度。

可选的,所述预设高度为相机设置高度;

相应的,根据所述初始下降速度对所述待补偿元件在所述预设距离后的下降过程进行速度补偿,以确定所述待补偿元件在下降过程中预设高度处的下降时间,包括:

根据所述相机设置高度和所述预设距离的开始点高度确定下降高度差;

根据所述下降高度差和所述初始下降速度确定所述待补偿元件从预设距离的开始点下降到所述相机设置高度的下降时间,以确定相机对所述待补偿元件的拍摄时机。

可选的,所述干扰因素包括所述待补偿元件的初始下降高度差异,和/或待补偿元件与物体产生的摩擦力。

第二方面,本发明实施例还提供了一种元件下降速度补偿装置,待补偿元件在自由落体下降前的速度受到干扰因素影响,包括:

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