[发明专利]一种具有寄生二极管的三维MOS栅控晶闸管及其制造方法有效

专利信息
申请号: 202110710255.7 申请日: 2021-06-25
公开(公告)号: CN113437143B 公开(公告)日: 2023-05-02
发明(设计)人: 陈万军;朱建泽;汪淳朋;杨超;刘超 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: H01L29/74 分类号: H01L29/74;H01L29/06;H01L29/744;H01L21/332
代理公司: 成都点睛专利代理事务所(普通合伙) 51232 代理人: 孙一峰
地址: 611731 四川省*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 具有 寄生 二极管 三维 mos 晶闸管 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种具有寄生二极管的MOS栅控晶闸管,包括沿垂直方向自底向上依次层叠设置的阳极金属(11)、P型阳极区(10)、N型漂移区(1);其特征在于,沿横向方向,在N型漂移区(1)上层两侧分别具有第一P型阱区(21)和第二P型阱区(22),沿纵向方向,在第一P型阱区(21)和第二P型阱区(22)之间的N型漂移区(1)中部,还具有第三P型阱区(23),第三P型阱区(23)在横向方向上分别连接第一P型阱区(21)和第二P型阱区(22);所述垂直方向、横向方向和纵向方向构成三维方向;第一P型阱区(21)上层具有第一N型阱区(51),第二P型阱区(22)上层具有第二N型阱区(52);在N型漂移区(1)上表面一侧具有栅氧化层(3),栅氧化层(3)的下表面分别与N型漂移区(1)、第二P型阱区(22)、第三P型阱区(23)和第二N型阱区(52)接触,栅氧化层(3)上表面具有多晶硅(4)与栅电极(9),栅电极(9)还沿栅氧化层(3)侧面垂直向下延伸至与第二N型阱区(52)接触;在N型漂移区(1)上表面另一侧具有阴极(8),阴极(8)下表面与第一N型阱区(51)、第一P型阱区(21)接触;在栅电极(9)与阴极(8)之间的第一N型阱区(51)上层还具有P型源区(6),且P型源区(6)的上表面分别与栅氧化层(3)和阴极(8)接触;栅氧化层(3)和多晶硅(4)与阴极(8)之间通过绝缘介质层(7)完全隔离;所述第一P型阱区(21)、第二P型阱区(22)、第三P型阱区(23)、第二N型阱区(52)、栅电极(9)和阴极(8)构成寄生二极管结构,第二N型阱区(52)与第二P型阱区(22)构成寄生二极管PN结,栅电极(9)与第二N型阱区(52)上表面接触的部分作为寄生二极管的阴极,阴极(8)、第一P型阱区(21)、第三P型阱区(23)和第二P型阱区(22)接触的部分作为寄生二极管的阳极。

2.一种具备栅极自钳位功能的三维IGBT的制造方法,其特征在于,包括以下步骤:

第一步:采用衬底硅片制作结终端,形成N型漂移区(1);

第二步:在N型漂移区(1)上表面通过离子注入和推结形成第一P型阱区(21),第二P型阱区(22)和第三P型阱区(23),其中,沿横向方向,第一P型阱区(21)和第二P型阱区(22)位于N型漂移区(1)上层两侧,沿纵向方向,第三P型阱区(23)位于第一P型阱区(21)和第二P型阱区(22)之间的N型漂移区(1)中部,第三P型阱区(23)在横向方向上分别连接第一P型阱区(21)和第二P型阱区(22);

第三步:在N型漂移区(1)上表面通过热氧生长栅氧化层(3),在栅氧化层(3)表面和边缘淀积多晶硅(4),并进行刻蚀,其中栅氧化层(3)下表面与全部的第三P型阱区(23)上表面,部分的第一P型阱区(21)的第二P型阱区(22)上表面接触;

第四步:在第一P型阱区(21)中注入N型杂质形成第一N型阱区(51),在第二P型阱区(22)中注入N型杂质形成第二N型阱区(52),且部分第一N型阱区(51)与部分第二N型阱区(52)的上表面与栅氧化层(3)的底部接触;

第五步:在第一N型阱区(51)中注入P型杂质形成P型源区(6);

第六步:在器件表面第一次淀积BPSG绝缘介质层(7),刻蚀欧姆接触孔,绝缘介质层(7)完全覆盖多晶硅(4)的上表面和侧面;

第七步:在器件正面淀积第一层金属并刻蚀第一层金属,形成阴极(8),阴极(8)下表面同时与第一N型阱区(51)和第一P型阱区(21)接触;

第八步:在器件表面淀积BPSG绝缘介质层(7),刻蚀欧姆接触孔,绝缘介质层(7)完全覆盖阴极(8)的上表面和侧面;

第九步:在器件正面淀积第二层金属,形成栅电极(9),栅电极(9)覆盖多晶硅(4)上表面并沿多晶硅(4)侧面延伸至与第二N型阱区(52)接触;

第十步:淀积钝化层;

第十一步:对N型漂移区(1)下表面进行减薄、抛光处理,离子注入并进行激活,形成P型阳极区(10);

第十二步:背金,在P型阳极区(10)底部淀积阳极金属(11)形成阳极结构。

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