[发明专利]一种应用于时差测向通道精度测量的方法及装置在审
申请号: | 202110710293.2 | 申请日: | 2021-06-25 |
公开(公告)号: | CN113433511A | 公开(公告)日: | 2021-09-24 |
发明(设计)人: | 姜志成;左都强;肖靖宇;雷胜钧;国艳群;杜尚勇 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第二十九研究所 |
主分类号: | G01S3/02 | 分类号: | G01S3/02 |
代理公司: | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 | 代理人: | 贾年龙 |
地址: | 610036 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 应用于 时差 测向 通道 精度 测量 方法 装置 | ||
本发明公开了一种应用于时差测向通道精度测量的方法及装置,包括步骤:S1,设置信号方位模拟单元,且信号方位模拟单元上设置有辐射源目标信号延迟装置和功分器等;S2,加电信号方位模拟单元,通过操控信号方位模拟单元上的辐射源目标信号延迟装置来选择不同长度的延迟线,从而形成不同电信号到达时间,测量得到不同接收通道间的电信号到达时间差,从而实现对传输信号形成不同的延迟值;S3,根据步骤S2中形成的不同的延迟值,计算出模拟辐射源不同的测试方位。本发明节约了资源,易于质量控制,提升了调测效率等。
技术领域
本发明涉及时差测向系统领域,更为具体的,涉及一种应用于时差测向通道精度测量的方法及装置。
背景技术
时差测向是利用两个或以上不同位置的天线,对给定的调制信号进行时间的测量,利用信号到达各天线的时间差,求出电波来波方向的测向技术。
为确保短基线时差产品质量符合技术指标要求,需在配有专业标校控制系统的微波暗室对测向精度指标进行测试。目前工程上一般选用辐射法直接照射,即用辐射源辐射被测系统,其相对于侦收系统的物理空间方位为目标真方位,示意图如图1所示。
现有技术存在一定的应用缺点:辐射法需要配套接收天线阵、发射天线和配有标校控制系统的专用暗室。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术的不足,提供一种应用于时差测向通道精度测量的方法及装置,节约了资源,易于质量控制,提升了调测效率等。
本发明的目的是通过以下方案实现的:
一种应用于时差测向通道精度测量的方法,包括步骤:
S1,设置信号方位模拟单元,且所述信号方位模拟单元上设置有辐射源目标信号延迟装置和功分器;功分器的第一端与信号源连接,功分器的第二端与辐射源目标信号延迟装置连接,功分器的第三端与前端接收机连接,前端接收机与时差测向系统连接,时差测向系统与直流电源连接;
S2,加电信号方位模拟单元,通过操控信号方位模拟单元上的辐射源目标信号延迟装置来选择不同长度的延迟线,从而形成不同电信号到达时间,测量得到不同接收通道间的电信号到达时间差,从而实现对传输信号形成不同的延迟值;
S3,根据步骤S2中形成的不同的延迟值,计算出模拟辐射源不同的测试方位。
进一步地,所述辐射源目标信号延迟装置包括两个通路选择开关,第一通路选择开关与第二通路选择开关连接。
进一步地,包括步骤:对步骤S2中得到的信号的延迟值进行标定。
进一步地,在标定步骤中,设置有检波器和数字示波器,检波器的第一输入端与辐射源目标信号延迟装置的输出端连接,检波器的第二输入端与功分器的输出端连接,检波器的输出端与数字示波器的输入端连接。
一种应用于时差测向通道精度测量的装置,包括:
信号方位模拟单元,且所述信号方位模拟单元上设置有辐射源目标信号延迟装置和功分器;功分器的第一端与信号源连接,功分器的第二端与辐射源目标信号延迟装置连接,功分器的第三端与前端接收机连接,前端接收机与时差测向系统连接,时差测向系统与直流电源连接。
进一步地,所述辐射源目标信号延迟装置包括两个通路选择开关,第一通路选择开关与第二通路选择开关连接。
进一步地,包括标定单元,所述标定单元包括检波器和数字示波器,检波器的第一输入端与辐射源目标信号延迟装置的输出端连接,检波器的第二输入端与功分器的输出端连接,检波器的输出端与数字示波器的输入端连接。
进一步地,包括显示器,所述显示器与时差测向系统连接。
本发明的有益效果包括:
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