[发明专利]一种软切换的测试装置方法在审
| 申请号： | 202110744181.9 | 申请日： | 2021-07-01 |
| 公开（公告）号： | CN113377087A | 公开（公告）日： | 2021-09-10 |
| 发明（设计）人： | 万燕斌;邹杰;蔡传传 | 申请（专利权）人： | 深圳市合信自动化技术有限公司 |
| 主分类号： | G05B23/02 | 分类号： | G05B23/02 |
| 代理公司： | 深圳叁众知识产权代理事务所(普通合伙) 44434 | 代理人： | 方秀珍 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区西丽街道*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 切换 测试 装置 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种软切换的测试装置方法，其特征在于，包括ATE上位机通用平台、ATE下位机系统、ATE机柜、针板和仪表，所述ATE上位机通用平台和ATE下位机系统通过通讯协议进行通信，所述ATE机柜内置所述针板，其测试流程包括如下步骤：
S1：上位机通用平台通过扫描二维码获取相关产品型号，传递给ATE下位机系统；
S2：ATE下位机系统根据型号选定内置的ATE下位机测试程序，并在ATE下位机测试程序内部预先选定对应的模块上下行信号；
S3：通过针板切换和待测件进行连接，并对待测件进行模拟量模块测试。
2.根据权利要求1所述的一种软切换的测试装置方法，其特征在于：所述S2中ATE下位机测试程序兼容多款型号，并根据待测模块硬件接口进行分类。
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