[发明专利]一种软切换的测试装置方法

说明书

本发明公开了PLC模拟量模块测试技术领域的一种软切换的测试装置方法，包括ATE上位机通用平台、ATE下位机系统、ATE机柜、针板和仪表，所述ATE上位机通用平台和ATE下位机系统通过通讯协议进行通信，所述ATE机柜内置所述针板,该软切换的测试装置方法通过上位机获取产品型号配合ATE下位机系统选定对应的ATE下位机测试程序并选定对应的模块的上下行信号，通过软切换把多个一对一测试进行集合，减少了PCB板及继电器电路，提高模拟量模块测试的稳定性，同时也减少了制作PCB切换电路的硬件及设计成本，通过使用针板切换代替工装夹具，并内置存放于ATE机柜，减少了夹具存放空间。

技术领域

本发明涉及PLC模拟量模块测试技术领域，具体为一种软切换的测试装置方法。

背景技术

PLC指可编程逻辑控制器，是种专门为在工业环境下应用而设计的数字运算操作电子系统，它采用一种可编程的存储器，在其内部存储执行逻辑运算、顺序控制、定时、计数和算术运算等操作的指令，通过数字式或模拟式的输入输出来控制各种类型的机械设备或生产过程，为了适应工业控制中大量模拟量控制信号采集的需求，PLC在数据处理和模拟量处理等方面的功能不断增强，使其可以广泛应用于模拟控制系统中。

现有的PLC模拟量模块测试的方案主要采用上位机通用平台+通用装备平台+型号小工装，通过通用装备平台里面的PCB板电路和通过继电器切换不同的信号，末端通过型号小工装和待测件连接，以实现多种型号的兼容测试，而通过PCB板电路和继电器电路在进行硬切换会导致在切换过程中模拟量模块测试的稳定性差，且制作和设计PCB板电路切换电路的成本较高，与待测件连接的工装夹具占取空间大，为此我们提出了一种软切换的测试装置方法。

发明内容

本发明的目的在于提供一种软切换的测试装置方法，以解决上述背景技术中提出的通过PCB板电路和继电器电路在进行硬切换会导致在切换过程中模拟量模块测试的稳定性差，且制作和设计PCB板电路切换电路的成本较高，与待测件连接的夹具占取空间大的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种软切换的测试装置方法，包括ATE上位机通用平台、ATE下位机系统、ATE机柜、针板和仪表，所述ATE上位机通用平台和ATE下位机系统通过通讯协议进行通信，所述ATE机柜内置所述针板，其测试流程包括如下步骤：

S1：上位机通用平台通过扫描二维码获取相关产品型号，传递给ATE下位机系统；

S2：ATE下位机系统根据型号选定内置的ATE下位机测试程序，并在ATE下位机测试程序内部预先选定对应的模块上下行信号；

S3：通过针板切换和待测件进行连接，并对待测件进行模拟量模块测试。

优选的，所述S2中ATE下位机测试程序兼容多款型号，并根据待测模块硬件接口进行分类。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：该软切换的测试装置方法，通过上位机获取产品型号配合ATE下位机系统选定对应的ATE下位机测试程序并选定对应的模块的上下行信号，通过软切换把多个一对一测试进行集合，减少了PCB板及继电器电路，提高模拟量模块测试的稳定性，同时也减少了制作PCB切换电路的硬件及设计成本，通过使用针板切换代替工装夹具，并内置存放于ATE机柜，减少了夹具存放空间。

具体实施方式

下面本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

实施例

一种软切换的测试装置方法，包括ATE上位机通用平台、ATE下位机系统、ATE机柜、针板和仪表，所述ATE上位机通用平台和ATE下位机系统通过通讯协议进行通信，所述ATE机柜内置所述针板；