[发明专利]一种图像处理方法、装置、电子设备及存储介质在审
申请号: | 202110797578.4 | 申请日: | 2021-07-14 |
公开(公告)号: | CN113487639A | 公开(公告)日: | 2021-10-08 |
发明(设计)人: | 李森 | 申请(专利权)人: | 北京金山云网络技术有限公司 |
主分类号: | G06T7/13 | 分类号: | G06T7/13;G06T5/30;G06T5/00 |
代理公司: | 北京华夏泰和知识产权代理有限公司 11662 | 代理人: | 蔡良伟;张娜 |
地址: | 100085 北京市海淀*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 图像 处理 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
1.一种图像处理方法,其特征在于,包括:
获取目标帧图像;
对预获取的背景图像以及所述目标帧图像进行差分处理,得到目标差分图像;
根据所述目标差分图像中差异区域的边缘强度信息得到遮挡检测结果;其中,所述差异区域为所述目标帧图像与所述目标背景图像之间存在差异的区域。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
获取摄像装置采集的历史图像集合;
将所述历史图像集合中不存在遮挡物的历史图像,确定为目标历史图像;
利用所述目标历史图像的像素和,计算像素平均值;
基于所述像素平均值生成初始的背景图像。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对预获取的背景图像以及所述目标帧图像进行差分处理,得到目标差分图像,包括:
采用所述背景图像对所述目标帧图像进行差分,得到第一差分图像;
对所述第一差分图像进行二值化处理,得到第二差分图像,其中,所述第二差分图像中携带遮挡信息;
对所述第二差分图像进行形态学腐蚀操作,确定所述第二差分图像中的目标像素点,并过滤所述目标像素点得到所述目标差分图像,其中,所述目标像素点为所述第二差分图像中孤立的像素点。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述目标差分图像中差异区域的边缘强度信息得到遮挡检测结果之前,所述方法还包括:
对所述目标差分图像进行边缘检测,确定所述目标帧图像与对应的背景图像之间的差异区域;
确定所述差异区域的最小外接矩形;
计算所述最小外接矩形的边缘强度值,作为所述差异区域的边缘强度信息。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述根据所述目标差分图像中差异区域的边缘强度信息得到遮挡检测结果,包括:
将所述边缘强度值与预获取的边缘强度阈值比较;
在所述边缘强度值大于所述边缘强度阈值的情况下,确定所述目标差分图像中存在遮挡摄像装置的遮挡物;
根据所述遮挡物生成所述遮挡检测结果。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,在根据所述遮挡物生成所述遮挡检测结果之后,所述方法还包括:
监控所述遮挡物,获取所述遮挡物对摄像装置的遮挡时长;
在所述遮挡时长大于或等于预设时长的情况下,发送报警信息。
7.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述根据所述差分图像中差异区域的边缘强度信息得到遮挡检测结果,包括:
将所述边缘强度值与预获取的边缘强度阈值比较;
在所述边缘强度值小于或等于所述边缘强度阈值的情况下,确定所述差分图像中不存在遮挡摄像装置的遮挡物,并生成所述遮挡检测结果。
8.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
获取所述目标帧图像的上一帧图像;
获取所述目标帧图像中的第一前景子图像,以及所述目标帧图像的上一帧图像中的第二前景子图像,其中,所述第一前景子图像是根据最小外接矩形得到的;
合成所述第一前景子图像和所述第二前景子图像,得到目标前景子图像;
将所述上一帧图像中除所述第一前景子图像以外的图像确定为目标背景子图像;
基于所述目标前景子图像和所述目标背景子图像生成第三图像;
将所述第三图像确定为下一时刻对应的背景图像。
9.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在确定所述差分图像中不存在遮挡摄像装置的遮挡物的情况下,所述方法还包括:
将所述目标帧图像确定为下一时刻对应的背景图像。
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