[发明专利]紫外线测量方法、计算设备及存储介质

权利要求书

1.一种紫外线测量方法，其特征在于，所述方法包括：

测量水溶液中的化学曝光剂受紫外线照射之前的第一吸光度；

在紫外发光二极管的发光面朝向所述水溶液时，控制所述紫外发光二极管发出紫外线照射所述水溶液；

测量所述化学曝光剂受所述紫外发光二极管发出的紫外线照射之后的第二吸光度；

根据所述第一吸光度和所述第二吸光度，获取所述紫外发光二极管的紫外线输出量。

2.如权利要求1所述的紫外线测量方法，其特征在于，在所述测量所述化学曝光剂受所述紫外发光二极管发出的紫外线照射之后的第二吸光度之前，包括：

使所述水溶液旋转形成漩涡，并使紫外发光二极管位于所述漩涡中。

3.如权利要求2所述的紫外线测量方法，其特征在于，所述使紫外发光二极管位于所述漩涡中，包括：

使得所述紫外发光二极管的发光面正对所述水溶液，且使所述发光面位于所述漩涡的顶部边缘与所述漩涡的底部之间。

4.如权利要求2所述的紫外线测量方法，其特征在于，所述使所述水溶液旋转形成漩涡，并使紫外发光二极管位于所述漩涡中，包括：

先使所述水溶液旋转形成漩涡，然后将所述紫外发光二极管放置于所述漩涡中。

5.如权利要求1所述的紫外线测量方法，其特征在于，所述紫外线输出量的计算公式为：

其中，E为所述紫外发光二极管的紫外线输出量，ΔA₃₅₂为所述第二吸光度与所述第一吸光度之差，所述第一吸光度是所述化学曝光剂受紫外线照射前在352nm波长以及1cm光程的吸光度，所述第二吸光度是所述化学曝光剂受紫外线照射后在352nm波长以及1cm光程的吸光度，V为所述水溶液的有效体积，U_λ为波长是λnm的光子能量，λ为所述紫外发光二极管发出的紫外线的波长，为量子收率，ε₃₅₂为摩尔吸光系数，R为所述紫外发光二极管发出的紫外线射入所述水溶液时的反射系数。

6.如权利要求1所述的紫外线测量方法，其特征在于，所述在紫外发光二极管的发光面朝向所述水溶液时，控制所述紫外发光二极管发出紫外线照射所述水溶液，包括：

在所述紫外发光二极管的发光面正对所述水溶液的表面，且所述发光面与所述表面之间的距离使得所述紫外发光二极管发出的紫外线全部照射至所述水溶液时，控制所述紫外发光二极管发出紫外线照射所述水溶液。

7.如权利要求1所述的紫外线测量方法，其特征在于，所述测量水溶液中的化学曝光剂受紫外线照射之前的第一吸光度，包括：

在水溶液中的化学曝光剂受紫外线照射之前，发出第一测量光照射所述水溶液；

接收透过所述水溶液的所述第一测量光并产生第一测量信号；

根据所述第一测量信号确定第一吸光度。

8.如权利要求1至7任一项所述的紫外线测量方法，其特征在于，所述测量所述化学曝光剂受所述紫外发光二极管发出的紫外线照射之后的第二吸光度，包括：

在所述化学曝光剂受所述紫外发光二极管发出的紫外线照射之后，发出第二测量光照射所述水溶液；

接收透过所述水溶液的所述第二测量光并产生第二测量信号；

根据所述第二测量信号确定第二吸光度。

9.一种计算设备，其特征在于，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至8任一项所述的方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至8任一项所述的紫外线测量方法。