[发明专利]带空隙校正的导电率传感器在审

专利信息
申请号: 202110835767.6 申请日: 2017-08-17
公开(公告)号: CN113552176A 公开(公告)日: 2021-10-26
发明(设计)人: M·R·戈德弗雷;E·托克图夫;J·埃里克森 申请(专利权)人: 埃科莱布美国股份有限公司
主分类号: G01N27/02 分类号: G01N27/02;G01N27/08;G01N27/07;G01N27/22
代理公司: 北京世峰知识产权代理有限公司 11713 代理人: 卓霖;许向彤
地址: 美国明*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 空隙 校正 导电 传感器
【权利要求书】:

1.一种用于实施流动流体的导电率测量的方法,其包括:

提供具有传感器组合件的传感器,所述传感器组合件包括:

导电率传感器;

第一电容电极;以及

第二电容电极;

使流体样本流过所述导电率传感器;

测量所述流体样本的导电率;

使所述流体样本流过所述第一电容电极和所述第二电容电极;

使用所述第一电容电极和所述第二电容电极测量受所述流体样本影响的电容;

将所述测量到的电容与导电率校正相关联;以及

通过基于所述导电率校正调节所测量到的导电率来计算经校正的导电率。

2.根据权利要求1或前述权利要求中任一项所述的方法,其中测量受所述流体样本影响的电容并且测量所述流体样本的所述导电率包括测量所述流体样本的至少部分重叠的体积的导电率和受所述流体样本的所述至少部分重叠的体积影响的电容。

3.根据权利要求2或前述权利要求中任一项所述的方法,其中测量所述流体样本的所述导电率包括测量在所述第一电容电极和所述第二电容电极之间流动的所述样本的一部分的所述导电率,使得基本上同时测量所述流体样本的所述至少部分重叠的体积的所述导电率和受所述流体样本的所述至少部分重叠的体积影响的所述电容。

4.根据权利要求2或前述权利要求中任一项所述的方法,其还包括

测量所述流动的流体样本的流速;以及

基于所述流速确定用于测量所述流体样本的所述导电率的导电率传感器和用于测量受所述流体样本影响的所述电容的电容传感器之间的滞后时间;并且其中

测量所述流体样本的所述电容和测量受所述流体样本影响的所述导电率的步骤分隔开所述确定的滞后时间。

5.根据权利要求1或前述权利要求中任一项所述的方法,其还包括:

接收识别所述流体样本的至少一个特性的输入;并且其中

计算所述经校正的导电率包含在所述计算中结合所述流体样本的所述至少一个特性。

6.根据权利要求5或前述权利要求中任一项所述的方法,其中所述流体样本的所述至少一个特性包括所述流体样本中的成分。

7.根据权利要求1或前述权利要求中任一项所述的方法,其还包括将所述传感器的所述传感器组合件插入现有流动系统的T形管中,并且将所述传感器的凸缘固定到所述T形管的凸缘上。

8.根据权利要求1或前述权利要求中任一项所述的方法,其中所述导电率传感器是电感式导电率传感器。

9.一种用于确定流体流动系统中的流体的导电率的传感器,其包括:

传感器板,其由柔性印刷电路板(PCB)材料制成,并且包含第一电极、第二电极、温度传感器和连接器,所述传感器板被缠绕在流体流动路径上,使得在所述流体流动系统中流动的所述流体的至少一些在所述第一电极的一部分和所述第二电极之间流动;

激励环形线圈和测量环形线圈,所述激励环形线圈和所述测量环形线圈各自围绕所述流体流动路径的一部分,使得流过所述流体流动系统的所述流体的至少一些流过所述激励环形线圈和所述测量环形线圈两者;以及

控制器,其被配置为:

与所述激励环形线圈和所述测量环形线圈通信,以确定流过所述流动系统的所述流体的测量到的导电率;

确定所述传感器板的所述第一电极和所述第二电极之间的电容;

确定流过所述流体流动系统的所述流体的温度;以及

基于所述测量到的导电率、所述确定的电容和所述确定的温度,确定流过所述流体流动系统的所述流体的经校正的导电率值。

10.一种根据前述权利要求中任一项所述的传感器用于确定流体流动系统中的流体的导电率的用途。

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