[发明专利]镜头阴影校正数据检测方法及装置在审

专利信息
申请号: 202110853003.X 申请日: 2021-07-27
公开(公告)号: CN113628228A 公开(公告)日: 2021-11-09
发明(设计)人: 许岳峰;刘志湘 申请(专利权)人: 昆山丘钛微电子科技股份有限公司
主分类号: G06T7/12 分类号: G06T7/12;G06T7/11;G06T5/00;G06T7/90;H04N5/217;H04N9/73
代理公司: 北京众达德权知识产权代理有限公司 11570 代理人: 李娇
地址: 215300 江苏省苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 镜头 阴影 校正 数据 检测 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种镜头阴影校正数据检测方法,其特征在于,所述镜头阴影校正数据检测方法包括:

从镜头阴影校正数据中获取数据阵列;

针对每个数据阵列,获取预设特征区域中每个特征数据单元与相应参考数据单元之间的差异值,其中,所述每个特征数据单元对应的参考数据单元基于待校正摄像模组的成像亮度分布预先确定;

基于所获取的差异值以及第一预设阈值,确定所述预设特征区域的镜头阴影校正数据是否存在异常。

2.根据权利要求1所述的镜头阴影校正数据检测方法,其特征在于,所述获取预设特征区域中每个特征数据单元与相应参考数据单元之间的差异值之前,还包括:

将所述数据阵列的四周边缘区域确定为所述预设特征区域;

将所述数据阵列按照中心行以及中心列划分为相互对称的四个数据区域;

针对每个数据区域中的所述每个特征数据单元,将其他三个数据区域中处于对称位置处的数据单元确定为所述特征数据单元的参考数据单元。

3.根据权利要求2所述的镜头阴影校正数据检测方法,其特征在于,获取四周边缘区域中每个特征数据单元与相应参考数据单元之间的差异值,包括:

针对所述每个特征数据单元,获取与第一预设邻域内数据单元之间的平均值,作为第一平均值;

将处于同一对称位置处的特征数据单元的第一平均值求平均,得到第二平均值;

基于所述第一平均值以及所述第二平均值,得到所述四周边缘区域每个特征数据单元与相应参考数据单元之间的差异值。

4.根据权利要求1所述的镜头阴影校正数据检测方法,其特征在于,所述获取预设特征区域中每个特征数据单元与相应参考数据单元之间的差异值之前,还包括:

将所述数据阵列的中间区域确定为所述预设特征区域,所述中间区域位于所述数据阵列中的四周边缘区域以内;

将所述数据阵列按照中心行以及中心列划分为相互对称的四个数据区域;

针对每个数据区域中的所述每个特征数据单元,将该特征数据单元的第二预设邻域内的数据单元确定为该特征数据单元的参考数据单元。

5.根据权利要求4所述的镜头阴影校正数据检测方法,其特征在于,获取中间区域中每个特征数据单元与相应参考数据单元之间的差异值,包括:

针对所述每个特征数据单元,获取与第二预设邻域内数据单元之间的平均值,作为第三平均值,并基于所述特征数据单元的增益值以及所述第三平均值,得到所述中间区域每个特征数据单元与相应参考数据单元之间的差异值。

6.根据权利要求1-5中任一项所述的镜头阴影校正数据检测方法,其特征在于,所述镜头阴影校正数据检测方法还包括:

针对每个数据阵列,获取所述数据阵列中的第一列数据与最后一列数据之间的差异值,若该差异值大于或等于第二预设阈值,则判定相应的镜头阴影校正数据存在异常。

7.根据权利要求1-5中任一项所述的镜头阴影校正数据检测方法,其特征在于,所述从镜头阴影校正数据中获取数据阵列,包括:

从镜头阴影校正数据中获取每个通道的增益补偿数据,得到每个通道对应的增益值;

将每组增益值分别转换成阵列排布,得到每个通道对应的数据阵列。

8.根据权利要求7所述的镜头阴影校正数据检测方法,其特征在于,所述通道包括R通道、GR通道、GB通道以及B通道,将所述GR通道对应的数据阵列作为第一数据阵列,将所述GB通道对应的数据阵列作为第二数据阵列,所述镜头阴影校正数据检测方法还包括:

获取所述第一数据阵列与第二阵列数据中同一目标数据单元的数据差异值;

比较所有所述目标数据单元的所述数据差异值,将最大的数据差异值作为所述GR通道与所述GB通道之间的通道差异值;

若所述通道差异值大于或等于第三预设阈值,则判定所述GR通道以及所述GB通道的镜头阴影校正数据存在异常。

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