[发明专利]一种电镀件表面膜层的测厚方法在审
| 申请号： | 202110855969.7 | 申请日： | 2021-07-28 |
| 公开（公告）号： | CN113686273A | 公开（公告）日： | 2021-11-23 |
| 发明（设计）人： | 姚鑫剑;颜飞;宋玉龙 | 申请（专利权）人： | 临海市伟星化学科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B15/02 | 分类号： | G01B15/02;G01N23/2251;G01N23/2202 |
| 代理公司： | 北京市中联创和知识产权代理有限公司 11364 | 代理人： | 高艳艳;王一民 |
| 地址： | 317000 *** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 电镀 表面 方法 | ||
1.一种电镀件表面膜层的测厚方法，其特征在于，包括步骤
S1，前处理阶段：在待测电镀件A上设置有色边界层后，将其制备成金相试样C；
S2，测量阶段：通过显微镜观察和测量所述金相试样C中有色边界层与电镀层之间的距离d，所述距离d即为所述待测电镀件A表面膜层的厚度。
2.根据权利要求1所述的电镀件表面膜层的测厚方法，其特征在于，所述步骤S1包括：
S11，准备待测电镀件A；
S12，制备有色颜料工作液；
S13，将所述有色颜料工作液涂覆至所述待测电镀件A的表面，干燥至恒重后得到具有有色边界层的待测电镀件B；
S14，将所述待测电镀件B进行切割、使所述待测电镀件B表面膜层的横截面裸露出，之后将其进行浇铸和研磨制备成金相试样C。
3.根据权利要求2所述的电镀件表面膜层的测厚方法，其特征在于，在所述步骤S12中，采用除黑色以外的有色颜料制备所述有色颜料工作液。
4.根据权利要求2或3所述的电镀件表面膜层的测厚方法，其特征在于，在所述步骤S12中，采用非透明有色漆制备所述有色颜料工作液。
5.根据权利要求2所述的电镀件表面膜层的测厚方法，其特征在于，在所述步骤S13中，采用浸涂或喷涂的方式将所述有色颜料工作液涂覆至所述待测电镀件A的表面。
6.根据权利要求2所述的电镀件表面膜层的测厚方法，其特征在于，在所述步骤S13中，将所述有色颜料工作液浸涂或喷涂于所述待测电镀件A的表面后，在80～120℃干燥至恒重，得待测电镀件B。
7.根据权利要求2所述的电镀件表面膜层的测厚方法，其特征在于，在所述步骤S14中，垂直于所述待测电镀件B的表面进行切割，使得所述待测电镀件B表面膜层的横截面垂直裸露出。
8.根据权利要求2所述的电镀件表面膜层的测厚方法，其特征在于，在所述步骤S14中，浇铸成型后的待测电镀件B表面膜层的横截面垂直裸露出。
9.根据权利要求1所述的电镀件表面膜层的测厚方法，其特征在于，所述步骤S2包括：
S21，将所述金相试样C置于显微镜的载物台上，调整显微镜，直至在低倍放大倍数下看到清晰的金相试样C的边界图像；
S22，提高显微镜的倍数，直至在高倍放大倍数下看到清晰的金相试样C中电镀层边界图像；
S23，缓慢增加光源亮度，直至看到清晰的所述金相试样C中电镀层和有色边界层之间的待测膜层两侧的边界图像；
S24，通过显微图像分析软件测量所述金相试样C中有色边界层与电镀层之间的距离d。
10.根据权利要求9所述的电镀件表面膜层的测厚方法，其特征在于，所述显微镜为金相显微镜。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于临海市伟星化学科技有限公司，未经临海市伟星化学科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110855969.7/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
