[发明专利]一种电镀件表面膜层的测厚方法

说明书

本发明提供了一种电镀件表面膜层的测厚方法，包括步骤S1，前处理阶段：在待测电镀件A上设置有色边界层后，将其制备成金相试样C；S2，测量阶段：通过显微镜观察和测量所述金相试样C中有色边界层与电镀层之间的距离d，所述距离d即为所述待测电镀件A表面膜层的厚度，本发明所述的电镀件表面膜层的测厚方法具有操作简单、成本低、适用范围广、检测结果精确、成功率高，同时，还可以显示膜层厚度的分布情况的优点。

技术领域

本发明涉及测量技术领域，具体而言，涉及一种电镀件表面膜层的测厚方法。

背景技术

在合金或金属件，如锌合金件的生产过程中，由于锌合金的电位较负，化学稳定性较差，容易被腐蚀，同时为了满足理化性能和外观视觉的需求，故常对合金件或金属件进行电镀加工使其成为电镀件，利用其表面的电镀层对合金件或金属件进行防护或防护装饰。

此外，为了大大提高电镀件的理化性能和外观视觉档次，在电镀后往往还需要在其表面再喷一层透明漆膜等膜层，如此所述透明漆膜的厚薄对产品的理化性能和外观视觉档次将会起到举足轻重的作用。

现有技术中，对于器件表面漆膜等膜层厚度的测量，普通厂家一般局限于使用游标卡尺、螺旋测微器(千分尺)、单功能便携式仪器等测量超厚度膜层、单一基体表面膜层、有颜色膜层、有磁性膜层和可导电膜层等，且测量结果容易受电、磁、光、热等物理条件影响，测量误差较大。此外，此类膜层厚度的测量技术还存在不能直观显示膜层厚度的分布情况，以及检测结果具有随机偶然性，对局部有缺陷膜层极易漏检等缺陷。

对于合金电镀件表面超薄透明绝缘无磁的膜层，如漆膜等，由于该膜层的厚度超薄、一般3um，且膜层本身无颜色、无磁性、非导电，且合金基体上常存在多种金属电镀层，例如：铜层、银层、金层、铜-锌合金层、铜-锡合金层、铜-锡-锌合金层、锡-钴合金层等等，使用上述设备和方法很难对这类电镀件表面超薄透明绝缘无磁的膜层进行精准测厚。

目前，对于合金电镀件这种复杂基体的表面超薄透明绝缘无磁膜层的精准测厚，科研机构主要采用SEM扫描式电子显微镜、STM扫描穿遂式电子显微镜、STEM扫描穿透式电子显微镜等高端高昂设备实现，然而电镜制样、电镜观察和电镜分析的费用昂贵、过程复杂、专业技术依赖性强，广泛实施和推广的难度极大。

为解决上述技术问题，特提出本申请。

发明内容

本发明设计出一种电镀件表面膜层的测厚方法，以克服现有普通厂家不能测量或科研机构需使用过程复杂、费用高昂、技术依赖程度高的电镜设备的技术难题。

为解决上述问题，本发明公开了一种电镀件表面膜层的测厚方法，包括步骤：

S1，前处理阶段：在待测电镀件A上设置有色边界层后，将其制备成金相试样C；

S2，测量阶段：通过显微镜观察和测量所述金相试样C中有色边界层与电镀层之间的距离d，所述距离d即为所述待测电镀件A表面膜层的厚度。

进一步的，所述步骤S1包括：

S11，准备待测电镀件A；

S12，制备有色颜料工作液；

S13，将所述有色颜料工作液涂覆至所述待测电镀件A的表面，干燥至恒重后得到具有有色边界层的待测电镀件B；

S14，将所述待测电镀件B进行切割、使所述待测电镀件B表面膜层的横截面裸露出，之后将其进行浇铸和研磨制备成金相试样C。

进一步的，在所述步骤S12中，采用除黑色以外的有色颜料制备所述有色颜料工作液。

进一步的，在所述步骤S12中，采用非透明有色漆制备所述有色颜料工作液。

进一步的，在所述步骤S13中，采用浸涂或喷涂的方式将所述有色颜料工作液涂覆至所述待测电镀件A的表面。