[发明专利]一种锂电池保护系统、芯片系统及方法有效

专利信息
申请号: 202110890286.5 申请日: 2021-08-04
公开(公告)号: CN113472049B 公开(公告)日: 2022-09-13
发明(设计)人: 孙登波 申请(专利权)人: 上海咨芯微电子有限公司
主分类号: H02J7/00 分类号: H02J7/00
代理公司: 上海波拓知识产权代理有限公司 31264 代理人: 陈亮
地址: 200439 上海市宝*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 锂电池 保护 系统 芯片 方法
【权利要求书】:

1.一种锂电池保护芯片系统,其特征在于:包括TEMP管脚,所述TEMP管脚内部通过导热金属线连接到温度转换模块温度采样区,所述芯片系统将锂电池热能通过TEMP管脚及导热金属线将热能传导到温度转换模块的温度采样区,所述温度转换模块实时将温度转化为电压信号,当温度过高或过低时启动锂电池保护系统;

其中,所述锂电池保护系统包括:

基准电压模块:采用Bandgap voltage reference方式,使用具有正温度系数的电压与具有负温度系数的电压之和,使温度系数相互抵消,实现与温度无关的电压基准;

偏置电流模块:实现与电源无关的稳定的电流,供比较器模块和振荡器模块使用;

比较器模块:用于处理基准电压与事件触发电压,产生或恢复事件信号

振荡器模块:产生振荡信号,提供系统时钟信号;

逻辑处理模块:处理事件信号,产生或恢复MOSFET控制信号。

2.据权利要求1所述的一种锂电池保护芯片系统,其特征在于:所述芯片系统包括锂电池保护芯片、充电MOS和放电MOS,所述锂电池保护芯片通过CO管脚控制充电MOS,所述所述锂电池保护芯片通过DO管脚控制放电MOS。

3.据权利要求1所述的一种锂电池保护芯片系统,其特征在于:所述芯片系统包括锂电池保护芯片和充放电MOS,所述锂电池保护芯片通过CDO管脚控制充放电MOS。

4.根据权利要求1所述的一种锂电池保护芯片系统,其特征在于:所述温度转换模块实现原理进一步包括:

负温度系数电路原理:

利用PN结正向导通电压实现温度转换;

PN结正向导通电压为V PN、正向导通电流I PN;

PN结电流方程:

I PN=I S0*[exp(V PN/V T)-1]≈I S0*exp(V PN/V T)式1

其中:I S0:为反向饱和电流,反向饱和电流与PN结材料的禁带宽度和温度有关,随PN结面积增大10-15A;

V T:温度电压当量,理想正温度系数电压,V T=kT/q≈26mV@300k;

T:热力学温度,单位为开氏温度K;

K:玻尔兹曼常数;

q:单位电子电荷量,单位为库伦C;

PN结反向饱和电流方程:I S=CTγ*[exp(-U S0/V T)]式2

其中,C是结面积、杂质浓度相关常数;

γ是常数;

U S0为绝对零度时PN结材料的导带底和价带顶间的电势差;

qU S0为PN结材料的禁带宽度;

由式1与式2可得:

V PN≈U S0–V T lnC/I PN–V T lnTγ式3

其中V T lnTγ为较小量,忽略后V PN≈U S0–V T lnC/I PN式4

由此式可知:当PN结电流I PN保持不变时,V PN随V T负温度系数进行变化。

5.根据权利要求1所述的一种锂电池保护芯片系统,其特征在于:所述温度转换模块实现原理进一步包括:

正温度系数电路原理:

当两个相同PN结的结电流不同时,PN结正向导通电压负温度系数也将不同,其差值为温度系数的电压;

控制PN结电流I PN1=N*I PN2时:

V PN1–V PN2=V T*ln(I PN1/I S0)–VT*ln(I PN2/I S0)=V T*lnN;其中,V PN1为第一个PN结正向导通电压,V PN2为第二个PN结正向导通电压;

由此式可知:当PN结电流I PN1与I PN2保持不变时,V PN1–V PN2随V T正温度系数进行变化。

6.根据权利要求4或5所述的一种锂电池保护芯片系统,其特征在于:所述PN结为双极晶体或者MOS采样二极管的PN结。

7.一种锂电池保护方法,采用权利要求1-6任意一项权利要求所述的锂电池保护芯片系统,其特征在于包括如下步骤:

引出TEMP管脚,TEMP管脚内部通过导热金属线连接到温度转换模块温度采样区,将外部热能信号传导到芯片内部温度传感电路采样区;

将采样区温度转换为电压信号;

比较基准参考电压信号与温度传感电路输出电压信号,比较后输出高温或低温事件信号;

处理高温或低温事件信号并输出控制信号;

最后,对高温或低温事件信号产生的高温或低温事件进行处理。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海咨芯微电子有限公司,未经上海咨芯微电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110890286.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top