[发明专利]测试方法及测试系统

权利要求书

1.一种测试方法，应用于存储器，所述存储器包括存储模块和ECC模块，其特征在于，包括：

向所述存储模块中写入第一初始数据，所述ECC模块基于所述第一初始数据，编码生成对应于所述第一初始数据的第一校验数据，并将所述第一校验数据写入所述存储模块；

向所述存储模块的同一地址中写入第二初始数据，存储在所述存储模块中的所述第二初始数据覆盖所述第一初始数据，其中，所述第一初始数据与所述第二初始数据具有数据差异；

读出所述存储模块中的所述第二初始数据和所述第一校验数据，所述ECC模块基于所述第二初始数据，编码生成对应于所述第二初始数据的第二校验数据，并基于所述第一校验数据和第二校验数据校验并修正所述第二初始数据；

读出所述存储器的第一读出数据，并基于所述第一读出数据，判断所述ECC模块的功能是否异常，所述第一读出数据为所述ECC模块校验并修正后的所述第二初始数据。

2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述向所述存储模块中写入第二初始数据，包括：关闭所述ECC模块，向所述存储模块中写入所述第二初始数据，待所述第二初始数据写入所述存储模块后，开启所述ECC模块。

3.根据权利要求2所述的测试方法，其特征在于，包括：

所述关闭所述ECC模块包括：关闭所述ECC模块的编码功能；

所述开启所述ECC模块包括：开启所述ECC模块的编码功能。

4.根据权利要求2所述的测试方法，其特征在于，包括：

所述关闭所述ECC模块包括：关闭所述ECC模块与所述存储模块之间存取校验数据的数据通道；

所述开启所述ECC模块包括：开启所述ECC模块与所述存储模块之间存取校验数据的数据通道。

5.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述判断所述ECC模块的功能是否异常，包括：若读出的所述第一读出数据与写入的所述第一初始数据相同，所述ECC模块功能正常，若读出的所述第一读出数据与写入的所述第一初始数据不同，所述ECC模块功能异常。

6.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，在所述读出所述存储器的第一读出数据的过程中，还包括：读出所述存储器的第二读出数据，所述第二读出数据为所述ECC模块基于第二初始数据编码生成的所述第二校验数据。

7.根据权利要求6所述的测试方法，其特征在于，所述第一初始数据与所述第二初始数据有且仅有一位数据差异，所述第一校验数据和所述第二校验数据有且仅有一位数据差异。

8.根据权利要求7所述的测试方法，其特征在于，所述基于所述第一读出数据，判断所述ECC模块的功能是否异常，包括：

基于所述ECC模块的编码方式，获取第一初始数据对应的第一校验数据；

基于所述ECC模块的编码方式，获取第一读出数据对应的检验数据；

若所述检验数据与所述第一校验数据相同，且所述检验数据与所述第二读出数据具有一位的数据差异，所述ECC模块的功能正常；

若所述检验数据与所述第一校验数据不同，或所述检验数据与所述第二读出数据的数据差异并非一位，所述ECC模块的功能异常。

9.一种测试系统，应用于权利要求1～8任一项所述测试方法，其特征在于，包括：

第一数据提供模块，被配置为，用于向存储器提供第一初始数据；

第二数据提供模块，被配置为，用于向存储器提供第二初始数据，所述第一初始数据与所述第二初始数据具有数据差异；

控制模块，被配置为，用于根据控制信号控制存储器的ECC模块的开启或关闭；

数据分析模块，被配置为，用于获取存储器输出的第一读出数据，并基于所述第一读出数据，判断所述ECC模块的功能是否异常，所述第一读出数据为存储器输出的校验并修正后的所述第二初始数据。

10.根据权利要求9所述的测试系统，其特征在于，所述第一初始数据与所述第二初始数据有且仅有一位数据差异。