[发明专利]一种包含融合电阻的结终端结构及其制造方法在审

专利信息
申请号: 202110962213.2 申请日: 2021-08-20
公开(公告)号: CN113707711A 公开(公告)日: 2021-11-26
发明(设计)人: 郑婷婷;李宇柱;王鑫;董长城;骆健 申请(专利权)人: 南瑞联研半导体有限责任公司
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06;H01L29/739;H01L21/331
代理公司: 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 代理人: 韩红莉
地址: 211100 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 包含 融合 电阻 终端 结构 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种包含融合电阻的结终端结构,其特征在于,包括衬底层(1)、主结环(2)和融合电阻环(4),

主结环(2)和融合电阻环(4)均内嵌在衬底层(1)表层中,融合电阻环(4)与主结环(2)相邻,主结环(2)和融合电阻环(4)呈跑道状从内向外依次排列;

退火推结工艺前主结环(2)和融合电阻环(4)之间有一定距离不接触,退火推结工艺后主结环(2)和融合电阻环(4)向四周扩散并相互接触。

2.根据权利要求1的一种包含融合电阻的结终端结构,其特征在于,

包括若干个第一型场氧化环(5)、介质层(7)、若干个第一金属环(8)和第二金属环(9),

第一型场氧化环(5)覆盖在退火推结工艺之前主结环(2)和融合电阻环(4)之间的衬底层(1)上;退火推结工艺之后,主结环(2)和融合电阻环(4)向四周扩散相互接触,第一型场氧化环(5)覆盖在主结环(2)、融合电阻环(4)和衬底层(1)上表面;

每一个融合电阻环(4)只与一个第一金属环(8)相接触,融合电阻环(4)上端均固定连接一个第一金属环(8),且每个第一金属环(8)的外侧均爬上了与该融合电阻环(4)相邻且位于该融合电阻环(4)外侧的第一场氧化环(5)上方;

第一金属环(8)与融合电阻环(4)之间和第一金属环(8)与第一场氧化环(5)之间均固定设置有介质层(7),第一金属环(8)与融合电阻环(4)之间的介质层(7)开设接触孔一;

第二金属环(9)固定设置在主结环(2)表面,第二金属环(9)和主结环(2)之间固定设置有介质层(7),第二金属环(9)和主结环(2)之间的介质层(7)上开设接触孔二。

3.根据权利要求2的一种包含融合电阻的结终端结构,其特征在于,

包括N个场限环(3),N个场限环(3)均内嵌在衬底层(1)表层中,其中N1,融合电阻环(4)位于主结环(2)和场限环(3)之间,主结环(2)、融合电阻环(4)和N个场限环(3)呈跑道状从内向外依次排列,

每一个场限环(3)上端均固定连接一个第一金属环(8),每一个场限环(3)只与一个第一金属环(8)接触;

场限环(3)和融合电阻环(4)之间有一定距离,第一型场氧化环(5)覆盖在退火推结工艺之前场限环(3)和融合电阻环(4)之间的衬底层(1)上表面;退火推结工艺之后,场限环(3)向四周扩散,场限环(3)有一部分扩散至第一型场氧化环(5)正下方的衬底层中,场限环(3)和融合电阻环(4)之间仍有距离且不接触;

第一金属环(8)与场限环(3)之间固定设置有介质层(7),第一金属环(8)与场限环(3)之间的介质层(7)开设接触孔三;

进行退火推结工艺后,主结环(2)向左右两边扩散的距离为L1,场限环(3)向左右两边扩散的距离为L2,融合电阻环(4)与主结环(2)之间的距离为D,D<(L1+L2)。

4.根据权利要求3的一种包含融合电阻的结终端结构,其特征在于,

淀积并刻蚀后第一金属环(8)通过接触孔一与融合电阻环(4)接触,或者接触孔一中设置导体;

淀积并刻蚀后第二金属环(9)通过接触孔二与主结环(2)接触,或者接触孔二中设置导体;

淀积并刻蚀第一金属环(8)通过接触孔三与场限环(3)接触,或者接触孔三中设置导体。

5.根据权利要求2的一种包含融合电阻的结终端结构,其特征在于,

包括第二型场氧化环(6),第二型场氧化环(6)固定设置在主结环(2)上表面,第二型场氧化环(6)外边缘不超过主结环(2)外边缘,第二金属环(9)与第二场氧化环(6)相邻。

6.根据权利要求5的一种包含融合电阻的结终端结构,其特征在于,

包括栅极金属环(10),栅极金属环(10)位于第二型场氧化环(6)上方,栅极金属环(10)和第二型场氧化环(6)之间固定设置有介质层(7),栅极金属环(10)与栅电极连接。

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