[发明专利]物体缺陷检测方法、装置、电子设备和存储介质

权利要求书

1.一种物体缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括：

获取不同缺陷尺度的物体图像；

对所述物体图像进行绝对尺度和相对尺度的尺度变换，获得缺陷尺度在预设尺度范围内的第一物体图像；

根据第一物体图像的缺陷尺度，利用预设识别模型对所述第一物体图像进行检测识别，获得所述物体图像的缺陷检测结果；

其中，所述根据第一物体图像的缺陷尺度，利用预设识别模型对所述第一物体图像进行检测识别，获得所述物体图像的缺陷检测结果包括：

对尺度变换后的第一物体图像进行特征提取；

确定第一物体图像的尺度类型；其中，第一物体图像的尺度类型为尺度变换前的物体图像的缺陷的尺度类型，所述尺度类型包括第一尺度、第二尺度或第三尺度，其中，所述第一尺度大于或等于第一预设阈值、第二尺度小于第一预设阈值且大于第二预设阈值，第三尺度小于或等于第二预设阈值；

根据所述尺度类型，利用预设识别模型对所述特征进行检测识别，获得所述物体图像的缺陷检测结果；

其中，所述根据所述尺度类型，利用预设识别模型对所述特征进行检测识别，获得所述物体图像的缺陷检测结果包括：

当所述尺度类型为第一尺度或第二尺度时，利用预设识别模型对所述特征中的深层特征进行检测识别，获得所述物体图像的缺陷检测结果；其中，所述深层特征的深度大于或等于预设数值；

当所述尺度类型为第三尺度时，利用预设识别模型对所述特征中的浅层特征进行检测识别，获得所述物体图像的缺陷检测结果；其中，所述浅层特征的深度小于预设数值。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述物体图像进行绝对尺度和相对尺度的尺度变换，获得缺陷尺度在预设尺度范围内的第一物体图像包括：

确定所述物体图像缺陷尺度的尺度类型；所述尺度类型包括第一尺度、第二尺度或第三尺度，其中，所述第一尺度大于或等于第一预设阈值、第二尺度小于第一预设阈值且大于第二预设阈值，第三尺度小于或等于第二预设阈值；

根据所述尺度类型，采用对应的绝对尺度和相对尺度的尺度变换方式对所述物体图像进行尺度变换，获得缺陷尺度在预设尺度范围内的第一物体图像。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述尺度类型，采用对应的绝对尺度和相对尺度的尺度变换方式对所述物体图像进行尺度变换，获得缺陷尺度在预设尺度范围内的第一物体图像包括：

当所述尺度类型为第一尺度时，按照预设第一比例对所述物体图像进行缩放；在缩放后的所述物体图像的四周补入预设数量的补位图像；将补入补位图像后的图像作为第一物体图像；

当所述尺度类型为第二尺度时，将所述物体图像作为第一物体图像；

当所述尺度类型为第三尺度时，对所述物体图像进行多次局部图像的截取，将多次截取后的局部图像按照预设第二比例进行放大，将放大后的局部图像作为第一物体图像。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述尺度类型，利用预设识别模型对所述特征进行检测识别，获得所述物体图像的缺陷检测结果包括：

当所述尺度类型为第一尺度时，利用所述预设识别模型对缺陷尺度大于或等于第一阈值的缺陷所对应的特征进行检测识别，获得所述物体图像的缺陷检测结果；

当所述尺度类型为第二尺度时，利用所述预设识别模型对缺陷尺度小于第一阈值且大于第二阈值的缺陷所对应的特征进行检测识别，获得所述物体图像的缺陷检测结果；其中，所述第一阈值大于所述第二阈值；

当所述缺陷尺度类型为第三尺度时，利用所述预设识别模型对缺陷尺度小于或等于第二阈值的缺陷所对应的特征进行检测识别，获得所述物体图像的缺陷检测结果。