[发明专利]一种无接触式晶圆移载设备在审
申请号: | 202110976640.6 | 申请日: | 2021-08-24 |
公开(公告)号: | CN113629000A | 公开(公告)日: | 2021-11-09 |
发明(设计)人: | 赵学灵;彭梓洋 | 申请(专利权)人: | 苏州桓旭半导体科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/683 | 分类号: | H01L21/683 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 215300 江苏省苏州市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 接触 式晶圆移载 设备 | ||
1.一种无接触式晶圆移载设备,包括移载支架(1),其特征在于:所述移载支架(1)一侧安装有吸取机构(2),所述吸取机构(2)用于对晶圆无接触式吸取固定,所述吸取机构(2)包括Y形手爪(201),所述Y形手爪(201)安装在所述移载支架(1)一侧,所述Y形手爪(201)内部两侧开设有高压气腔(202),所述高压气腔(202)顶部均匀开设有射流孔(203),所述射流孔(203)内部设置有偏流挡柱(204),所述偏流挡柱(204)顶部一侧安装有导流侧板(205);
所述Y形手爪(201)与所述移载支架(1)之间设置有移载机构(3),所述移载机构(3)用于驱使所述Y形手爪(201)移动,所述移载机构(3)包括Z轴支架(302),所述Z轴支架(302)嵌入在所述移载支架(1)一侧,所述Z轴支架(302)一侧活动设置有X轴支架(301),所述X轴支架(301)底端安装有固定框架(303),所述固定框架(303)与X轴支架(301)之间通过连接支架(304)连接固定。
2.根据权利要求1所述的一种无接触式晶圆移载设备,其特征在于:所述导流侧板(205)顶部与所述偏流挡柱(204)端部之间通过旋转卡环(206)旋转连接,所述旋转卡环(206)顶部螺纹连接有固定螺环。
3.根据权利要求1所述的一种无接触式晶圆移载设备,其特征在于:所述Y形手爪(201)顶端对应所述高压气腔(202)端部一侧嵌入有高压气泵(8),且所述Y形手爪(201)为陶瓷材质制成。
4.根据权利要求1所述的一种无接触式晶圆移载设备,其特征在于:所述Y形手爪(201)一侧和所述连接支架(304)底端与所述固定框架(303)之间均通过电气滑环(5)固定连接,且所述电气滑环(5)端部一侧均安装有旋转轴座(6)。
5.根据权利要求1所述的一种无接触式晶圆移载设备,其特征在于:所述移载支架(1)外壁一侧与所述X轴支架(301)顶端均卡接有传动链条(305)。
6.根据权利要求1所述的一种无接触式晶圆移载设备,其特征在于:所述固定框架(303)外壁另一侧卡接有光纤检测支架(4)。
7.根据权利要求1述的一种无接触式晶圆移载设备,其特征在于:所述固定框架(303)底端对应所述Y形手爪(201)底部设置有防护机构(9),所述防护机构(9)包括防护底斗(901),所述防护底斗(901)安装在所述固定框架(303)底端对应所述Y形手爪(201)底部位置处,所述防护底斗(901)内部顶部转动安装有支撑轴(902),所述支撑轴(902)外部安装有活动板(903),所述防护底斗(901)内部底端两侧开设有收集侧腔(904),其一所述收集侧腔(904)内壁一侧嵌入有压力传感器(905)。
8.根据权利要求7所述的一种无接触式晶圆移载设备,其特征在于:所述支撑轴(902)一侧设置有驱动电机(7),所述防护底斗(901)和所述活动板(903)表面均包覆有海绵垫套。
9.根据权利要求7所述的一种无接触式晶圆移载设备,其特征在于:所述支撑轴(902)的两端与所述防护底斗(901)的内壁通过轴承连接,所述活动板(903)固定套设在所述支撑轴(902)上。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造