[发明专利]基于三轴联动小磨头抛光机类平面加工非球面的方法在审
| 申请号： | 202111019961.3 | 申请日： | 2021-09-01 |
| 公开（公告）号： | CN113714859A | 公开（公告）日： | 2021-11-30 |
| 发明（设计）人： | 王哲;吴令奇;方媛媛;徐学科;朱小磊;顿爱欢;顾晨 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海光学精密机械研究所;上海恒益光学精密机械有限公司 |
| 主分类号： | B24B1/00 | 分类号： | B24B1/00;B24B49/12;G06F30/17 |
| 代理公司： | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人： | 张宁展 |
| 地址： | 201800 *** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 基于 联动 小磨头 抛光机 平面 加工 球面 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种光学非球面类平面加工方法，其特征在于：所述的加工方法的步骤为：
步骤一：，设非球面元件的半径R、口径D、焦距f，测量非球面元件的面形Pi(xi，yi，zi)；
步骤二：将测量得到的面形Pi(xi，yi，zi)按照下列公式进行坐标变换，得到新的面形坐标P’i(x’i，y’i，zi)：
步骤三：将步骤二得到新的面形数据导入小磨头抛光机软件，输入加工元件类型为平面，路径为光栅路径，生成加工代码；
步骤四：利用加工代码对非球面元件进行加工；
步骤五：利用干涉仪测量非球面元件面形，若面形数据达标则结束加工，若未达标，则重复步骤二到步骤四，反复迭代多次，直到面形达到要求。
2.根据权利要求1所述的一种光学非球面类平面加工方法，其特征在于：该方法适用于元件抛亮后的精修面形阶段，利用干涉仪测量的结果。
3.根据权利要求1所述的一种光学非球面类平面加工方法，其特征在于：该方法适用于总矢高a不大于5mm的非球面元件，包括凸非球面和凹非球面。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院上海光学精密机械研究所;上海恒益光学精密机械有限公司，未经中国科学院上海光学精密机械研究所;上海恒益光学精密机械有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202111019961.3/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
