[发明专利]温控系统温度传感器失效检测方法、装置、设备及介质

说明书

本发明公开了一种温控系统温度传感器失效检测方法、装置、设备及介质，其中所述方法包括：在加热组件加热过程中，获取温度传感器采集的温度值；判断所述温度值是否满足预设的温度传感器失效条件；若满足，则控制所述加热组件停止工作。本发明提供的一种温控系统温度传感器失效检测方法、装置、设备及介质，通过软件算法对温度传感器进行失效检测，当检测到温度传感器失效时，控制加热组件停止工作，实现对温度传感器的检测，有效规避了因温度传感器失效导致的温控系统失控过热，进而引发安全隐患的问题，大大提升PID温控系统的安全性。

技术领域

本发明属于烹饪器具技术领域，尤其涉及一种温控系统温度传感器失效检测方法、装置、设备及介质。

背景技术

目前在自动控制领域PID算法因其控制过程稳定，系统灵敏度高和响应速率快等优点被广泛使用。在基于PID算法温度控制系统中，通过温度采样传感器实时采集并反馈系统当前温度，系统依据反馈的温度值利用PID算法实时动态控制发热器件的发热功率，达到使系统温度维持在目标温度的目的。

但是，当温度采样传感器失效时，由于系统反馈温度错误，若反馈温度一直小于目标温度时，PID算法调节将会使发热器件一直维持全功率发热状态，在系统未添加硬件温控保护装置或硬件温控保护装置失效的情况下，系统将会出现过温现象，存在极大安全隐患。

发明内容

为解决背景技术中提及的技术问题，本发明提供的一种温控系统温度传感器失效检测方法、装置、设备及介质，实现对温度传感器失效检测，有效避免了因温度传感器失效导致的系统失控过热的安全隐患。

为实现上述目的，本发明的一种温控系统温度传感器失效检测方法、装置、设备及介质的具体技术方案如下：

一种温控系统温度传感器失效检测方法，包括以下步骤：

在加热组件加热过程中，获取温度传感器采集的温度值；

判断所述温度值是否满足预设的温度传感器失效条件；

若满足，则控制所述加热组件停止工作。

进一步的，在判断所述温度值是否满足预设的温度传感器失效条件之前，所述方法还包括：

判断温度传感器采集到的温度值是否小于目标温度值；

若温度传感器采集到的温度值小于目标温度值，则执行判断所述温度值是否满足预设的温度传感器失效条件的操作。

进一步的，所述判断所述温度值是否满足预设的温度传感器失效条件，包括：

判断连续多次检测到相邻两次采样时刻采集到的温度值对应的温度升高值是否小于预设的最小温度升高阈值；

若连续多次检测到相邻两次采样时刻采集到的温度值对应的温度升高值小于预设的最小温度升高阈值，则预测温度传感器失效，则执行控制所述加热组件停止工作的操作。

进一步的，在控制所述加热组件停止工作之后，所述方法还包括：

判断连续多次检测到相邻两次采集时刻采集到的温度值对应的温度降低值是否小于预设的最小温度降低阈值；

若连续多次检测到相邻两次采集时刻采集到的温度值对应的温度降低值小于预设的最小温度降低阈值，则判定温度传感器失效，发出温度传感器失效报警。

进一步的，所述方法还包括：

若连续多次检测到相邻两次采集时刻采集到的温度值对应的温度降低值大于或者等于预设的最小温度降低阈值，则判定温度传感器正常，控制加热组件开启。

一种温控系统温度传感器失效检测装置，包括：

获取单元，用于在加热组件加热过程中，获取温度传感器采集的温度值；