[发明专利]一种过流保护测试方法、装置、设备及可读存储介质

权利要求书

1.一种过流保护测试方法，其特征在于，应用于处理器，包括：

通过电子负载控制待测主板中的待测电压调节VR芯片的输出电流从基准电流值开始以预设步幅递增；

监测所述待测VR芯片触发断路保护时产生的断路保护信号；

在所述断路保护信号为过温保护类型时，在预设时长后通过所述电子负载控制所述待测VR芯片的输出电流从触发过温保护瞬间的电流值开始以所述预设步幅递增，并执行所述监测所述待测VR芯片触发断路保护时产生的断路保护信号的步骤；

在所述断路保护信号为过流保护类型时，将所述待测VR芯片触发过流保护瞬间的电流值作为过流保护触发值。

2.根据权利要求1所述的过流保护测试方法，其特征在于，所述监测所述待测VR芯片触发断路保护时产生的断路保护信号包括：

通过通信装置对所述待测主板中的各个所述待测VR芯片进行寻址，确定出各个所述待测VR芯片的通信地址；

响应于通过人机交互装置接收到的选择指令，对所述选择指令指定的所述通信地址对应的所述待测VR芯片触发断路保护时产生的断路保护信号进行监测。

3.根据权利要求2所述的过流保护测试方法，其特征在于，所述通信装置包括：

与所述处理器连接的控制芯片，用于在所述处理器的控制下通过寻址芯片获取各个所述待测VR芯片的通信地址，并将获取到的所述通信地址传输至所述处理器，以便所述处理器通过自身以及所述寻址芯片实现与指定的所述通信地址对应的VR芯片的通信；

分别与所述控制芯片以及各个所述待测VR芯片连接的所述寻址芯片。

4.根据权利要求3所述的过流保护测试方法，其特征在于，所述通信装置还包括与所述控制芯片连接的提示装置；

所述监测所述待测VR芯片触发断路保护时产生的断路保护信号之后，该过流保护测试方法还包括：

通过所述控制芯片控制所述提示装置提示所述断路保护信号的具体类型。

5.根据权利要求4所述的过流保护测试方法，其特征在于，所述提示装置为发光二极管。

6.根据权利要求3所述的过流保护测试方法，其特征在于，所述在所述断路保护信号为过流保护类型时，将所述待测VR芯片触发过流保护瞬间的电流值作为过流保护触发值具体为：

在所述断路保护信号为过流保护类型时，通过示波器获取所述待测VR芯片触发过流保护瞬间的电流波形图并从所述电流波形图中确定出过流保护触发值和/或通过所述通信装置接收所述待测VR芯片触发过流保护前最后发送的自身输出电流的电流值并将其作为所述过流保护触发值。

7.根据权利要求1至6任一项所述的过流保护测试方法，其特征在于，该过流保护测试方法还包括：

通过所述通信装置获取所述待测VR芯片发送的自身的实时温度值；

在所述断路保护信号为过温保护类型时，将当前接收到的实时温度值作为过温保护触发值。

8.一种过流保护测试装置，其特征在于，应用于处理器，包括：

控制模块，用于通过电子负载控制待测主板中的待测电压调节VR芯片的输出电流从基准电流值开始以预设步幅递增；

监测模块，用于监测所述待测VR芯片触发断路保护时产生的断路保护信号；

执行模块，用于在所述断路保护信号为过温保护类型时，在预设时长后通过所述电子负载控制所述待测VR芯片的输出电流从触发过温保护瞬间的电流值开始以所述预设步幅递增，并执行所述监测所述待测VR芯片触发断路保护时产生的断路保护信号的步骤；

记录模块，用于在所述断路保护信号为过流保护类型时，将所述待测VR芯片触发过流保护瞬间的电流值作为过流保护触发值。

9.一种过流保护测试设备，其特征在于，包括：

存储器，用于存储计算机程序；

处理器，用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7任一项所述过流保护测试方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述过流保护测试方法的步骤。