[发明专利]一种过流保护测试方法、装置、设备及可读存储介质

说明书

本发明公开了一种过流保护测试方法、装置、设备及计算机可读存储介质，本申请中的处理器可以通过电子负载控制待测主板中的待测VR芯片的输出电流从基准电流值开始以预设步幅递增，在此过程中可以对待测VR芯片触发断路保护时产生的断路保护信号进行监测，一旦发现属于过温保护触发断路，便可以在预设时长(待测VR芯片冷却)后通过电子负载控制待测VR芯片的输出电流从触发过温保护瞬间的电流值开始以预设步幅递增，从而继续进行测试，直至待测VR芯片触发过流保护并记录过流保护触发值，由于本申请应用于处理器中，工作效率较高，且能够准确地找到过流保护触发值，提高了测试准确性。

技术领域

本发明涉及服务器领域，特别是涉及一种过流保护测试方法，本发明还涉及一种过流保护测试装置、设备及计算机可读存储介质。

背景技术

服务器主板和其他板卡在开发阶段需要针对主板的电源设计方案进行测试，在测试过程中，需要对待测主板上的VR(voltage adjustment，电压调节)芯片进行电流保护的验证，来保证主板的供电稳定性，具体需要验证VR芯片真实的OCP(Over CurrentProtection，过流保护)触发点，然而现有技术中在进行过流保护测试时，通常需要工作人员手动调节负载大小以便对各个等级的电流进行测试，测试效率较低，并且还可能因为长时间的测试触发VR芯片的OTP(Over Temperature Protection，过温保护)从而误将过此时的电流值当做OCP触发点，测试准确性较差。

因此，如何提供一种解决上述技术问题的方案是本领域技术人员目前需要解决的问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种过流保护测试方法，本申请应用于处理器中，工作效率较高，且能够准确地找到过流保护触发值，提高了测试准确性；本发明的另一目的是提供一种过流保护测试装置、设备及计算机可读存储介质，本申请应用于处理器中，工作效率较高，且能够准确地找到过流保护触发值，提高了测试准确性。

为解决上述技术问题，本发明提供了一种过流保护测试方法，应用于处理器，包括：

通过电子负载控制待测主板中的待测电压调节VR芯片的输出电流从基准电流值开始以预设步幅递增；

监测所述待测VR芯片触发断路保护时产生的断路保护信号；

在所述断路保护信号为过温保护类型时，在预设时长后通过所述电子负载控制所述待测VR芯片的输出电流从触发过温保护瞬间的电流值开始以所述预设步幅递增，并执行所述监测所述待测VR芯片触发断路保护时产生的断路保护信号的步骤；

在所述断路保护信号为过流保护类型时，将所述待测VR芯片触发过流保护瞬间的电流值作为过流保护触发值。

优选地，所述监测所述待测VR芯片触发断路保护时产生的断路保护信号包括：

通过通信装置对所述待测主板中的各个所述待测VR芯片进行寻址，确定出各个所述待测VR芯片的通信地址；

响应于通过人机交互装置接收到的选择指令，对所述选择指令指定的所述通信地址对应的所述待测VR芯片触发断路保护时产生的断路保护信号进行监测。

优选地，所述通信装置包括：

与所述处理器连接的控制芯片，用于在所述处理器的控制下通过寻址芯片获取各个所述待测VR芯片的通信地址，并将获取到的所述通信地址传输至所述处理器，以便所述处理器通过自身以及所述寻址芯片实现与指定的所述通信地址对应的VR芯片的通信；

分别与所述控制芯片以及各个所述待测VR芯片连接的所述寻址芯片。

优选地，所述通信装置还包括与所述控制芯片连接的提示装置；

所述监测所述待测VR芯片触发断路保护时产生的断路保护信号之后，该过流保护测试方法还包括：