[发明专利]一种晶片装载腔结构在审
申请号: | 202111302436.2 | 申请日: | 2021-11-04 |
公开(公告)号: | CN114023678A | 公开(公告)日: | 2022-02-08 |
发明(设计)人: | 余洋;王宝财;王学仕;杨金 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第四十八研究所 |
主分类号: | H01L21/677 | 分类号: | H01L21/677;B01D46/00 |
代理公司: | 湖南兆弘专利事务所(普通合伙) 43008 | 代理人: | 徐好 |
地址: | 410111 湖南*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 晶片 装载 结构 | ||
1.一种晶片装载腔结构,包括腔体(1),其特征在于:所述腔体(1)上设有前门(2)和后门(3),所述腔体(1)底部设有进气口(11)且顶部设有单向出气口(12),所述进气口(11)连接有气体过滤器(4),所述前门(2)配设有前门驱动件(21),所述后门(3)配设有后门驱动件(31)。
2.根据权利要求1所述的晶片装载腔结构,其特征在于:所述腔体(1)顶部还设有用于测量氧含量的测量口(13)。
3.根据权利要求1所述的晶片装载腔结构,其特征在于:所述前门(2)与所述腔体(1)铰接,所述前门驱动件(21)为伸缩式驱动件,前门驱动件(21)一端与所述腔体(1)铰接,另一端与所述前门(2)铰接。
4.根据权利要求3所述的晶片装载腔结构,其特征在于:所述前门(2)下部延伸至所述腔体(1)下方,前门(2)下部配设有伸缩式止动件(22),所述伸缩式止动件(22)上设有止动轮(23)。
5.根据权利要求1所述的晶片装载腔结构,其特征在于:所述后门(3)两侧设有升降导轨(32),后门(3)上安装有与所述升降导轨(32)配合的升降滑轮(33)。
6.根据权利要求5所述的晶片装载腔结构,其特征在于:所述后门(3)上设有沿前后方向布置的导向销(34),所述后门驱动件(31)与所述导向销(34)活动连接,所述后门(3)配设有压紧驱动件(35)。
7.根据权利要求1至6中任一项所述的晶片装载腔结构,其特征在于:所述后门(3)后侧设有第一片盒底座(51),所述第一片盒底座(51)上设有可拆卸的第二片盒底座(52),所述第一片盒底座(51)与所述第二片盒底座(52)左右方向的中心线上下对齐,第一片盒底座(51)与第二片盒底座(52)之间的高度差为a,第一片盒底座(51)对应的晶片(8)与第二片盒底座(52)对应的晶片(8)的半径差为b,则a=b。
8.根据权利要求1至6中任一项所述的晶片装载腔结构,其特征在于:所述前门(2)和所述后门(3)均配设有用于检测开关状态的第一检测件(61)。
9.根据权利要求8所述的晶片装载腔结构,其特征在于:所述后门(3)还配设有用于检测机械手的第二检测件(62)。
10.根据权利要求8所述的晶片装载腔结构,其特征在于:所述腔体(1)内壁上设有用于检测片盒(7)尺寸的第三检测件(63)以及用于检测晶片(8)在片盒(7)内位置的第四检测件(64)。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
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H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造